Masni spektrometer sekundarnih ionov SIMS | Center za prenos tehnologij in inovacij na Institutu "Jožef Stefan"

IJS Oprema

ID: 9718

Ime: Masni spektrometer sekundarnih ionov SIMS

Tip: Spektrometrija

Lastnik: Institut "Jožef Stefan"

Odsek: F4

Leto nabave: 2011

Področje KET: Nanotehnologija
Napredni materiali

Cena za uporabo (EUR/h): 100,61

Skrbnik opreme: Janez Kovač

E pošta skrbnika: Janez.Kovac@ijs.si

Način najema opreme: Storitev izvaja raziskovalec IJS

Nabavna vrednost (EUR): 690 000,00

Opis/namembnost : TOF–SIMS spektrometer na osnovi masne spektroskopije molekul s površine omogoča precizno analizo elemntne sestave in molekularne strukture površin, tankih plasti in faznih mej organskih in anorganskih trdih materialov, kot so: polimeri, biomateriali, polprevodniki, prevleke, barve, kovine, keramika, steklo, zdravila... Masna ločljivost instrumenta je okoli 10.000, lateralno ločljivostjo je okoli 100 nm in analizna globina 2-3 monoplasti.

Inventarna številka IJS:

The sidebar you added has no widgets. Please add some from theWidgets Page