ID	Tip	Lastnik	Odsek	Leto nabave	Področje KET	Cena za uporabo (EUR/h)	Skrbnik opreme	E pošta skrbnika	Način najema opreme	Nabavna vrednost (EUR)	Opis/namembnost	Inventarna številka IJS	Fotografije
LABMASTER MCM-ZI-A	Ostala oprema	Institut "Jožef Stefan"	F9	2019	Napredni materiali		Rok Pestotnik	Rok.Pestotnik@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	117999.34	HITRI OSCILOSKOP Z VELIKO PASOVNO ŠIRINO; proizvajalec TELEDYNE LECROY; model LABMASTER MCM-ZI-A, modul: LM10-36ZI-A, 36 GHz, 80 GS/s, 32 Mpts/Ch, 50 Ohm Input, Memory: 128 Mpt/Ch, 2,92 mm ProBus Adapter.	65412
													*
Reaktor TRIGA	Ostala oprema	Republika Slovenija	RIC	1966	Napredni materiali	2000	Borut Smodiš	Borut.Smodis@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS		Reaktor je močan vir sevanja nevtronov in žarkov gama. Uporablja se ga tudi za šolanje in izobraževanje.	28	*
Gruča BULL NovaScale R440	Računalništvo		R4	2007	Mikro- in nano-elektronika		Zoran Petrič	Zoran.Petric@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
RAČUNALNIŠKI SISTEM HPC	Računalništvo		R4	2014	Mikro- in nano-elektronika		Sandi Cimerman	Sandi.Cimerman@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
VISOKO ZMOGLJIV RAČUNALNIK	Računalništvo		R4	2010	Mikro- in nano-elektronika		Leon Cizelj	Leon.Cizelj@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
NADGRADNJA GRUČE RAČUNALNIŠKI SISTEM HPC	Računalništvo	Institut "Jožef Stefan"	R4	2015	Mikro- in nano-elektronika	0.05/jedro	Sandi Cimerman	Sandi.Cimerman@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	35678.17	Računalniška gruča za izvajanje znanstvenih računskih simulacij. Hitra mrežna komunikacija med računskimi vozlišči omogoča dobro skaliranje večprocesnih izračunov. Oprema vsebuje 10 računskih vozlišč po 2 procesorja, vsak z 14 jedri in 256GB spomina.		*
NADGRADNJA GRUČE RAČUNALNIŠKI SISTEM HPC	Računalništvo	Institut "Jožef Stefan"	R4	2015	Mikro- in nano-elektronika	0.05/jedro	Sandi Cimerman	Sandi.Cimerman@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	145543.56	Računalniška gruča za izvajanje znanstvenih računskih simulacij. Hitra mrežna komunikacija med računskimi vozlišči omogoča dobro skaliranje večprocesnih izračunov. Oprema vsebuje 10 računskih vozlišč po 2 procesorja, vsak z 14 jedri in 256GB spomina.		*
Računska računalniška gruča	Računalništvo	Institut "Jožef Stefan"	R4	2010	Mikro- in nano-elektronika	51.37	Iztok Tiselj	Iztok.Tiselj@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	179400	Oprema se uporablja za simulacije na področjih računalniške fizike (predvsem Monte-Carlo simulacije), jedrske termohidravlike (simulacije v mehaniki tekočin, prenosu toplote in snovi z metodami končnih razlik, končnih volumnov oz. spektralnimi shemami) ter na področju strukturnih analiz (simulacije trdnosti struktur - predvsem z metodami končnih enlementov).		*
Računska računalniška gruča	Računalništvo	Institut "Jožef Stefan"	R4	2007	Mikro- in nano-elektronika	59.67	Leon Cizelj	leon.cizelj@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	100000	Računalniška gruča za izvajanje znanstvenih simulacij. Nadzorno vozlišče ter 18 računskih vozlišč, dva dvo- oz. štiri-jedrna Intel Xeon procesorja na vozlišče, 3GHz, od 8 do 32GB spomina na vozlišče. Gigabitna povezava med vozlišči. 64-bitni Red Hat Enterprise Linux 4 WS, Update 4. Torque čakalni sistem.		*
INST.ZA LASERSKO ABLACIJO	Laserji		O2	2015	Napredni materiali		Milena Horvat	Milena.Horvat@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS		Instrument odlikuje visoka preciznost same analize in visoka ločljivost v prostoru in času in možnost serijskih analiz velikega števila majhnih, a natančno pozicioniranih vzorcev (red velikosti µg, prostorska ločljivost reda velikosti nekaj µm).		*
ULTRAWAVE ECR SISTEM	Fizikalno-kemijske analize		O2	2015	Napredni materiali		Milena Horvat	Milena.Horvat@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS		Za kemijske analize organskega materiala		*
SCINTILACIJSKI STEVEC PACARD	Fizikalno-kemijske analize		O2	1999	Napredni materiali		Barbara Svetek	Barbara.Svetek@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS		Priprava za ugotavljanje ionizirajočih delcev		*
Mikrovalovni sistem za razklope in ekstrakcije	Fizikalno-kemijske analize	Institut "Jožef Stefan"	O2	2008	Napredni materiali	36.3	Milena Horvat	Milena.Horvat@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	51327	Mikrovalovni sistem je namenjen za razkroj in ekstrakcije večjega števila tako anorganskih kot organskih vzorcev.		*
Sistem za karakterizacijo radioaktivnih aerosolov velikosti od 2 do 400 nm	Fizikalno-kemijske analize	Institut "Jožef Stefan"	O2	2008	Napredni materiali	37.14	Milena Horvat	Milena.Horvat@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	58444	Uporablja se za karakterizacijo radioaktivnih aerosolov velikosti od 2 do 400 nm v vzorcih zraka		*
IsoPrime MultiFlow Bio	Fizikalno-kemijske analize	Institut "Jožef Stefan"	O2	2008	Napredni materiali	39.46	Milena Horvat	Milena.Horvat@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	78200	Ekvilibracija vode oz. vodnih raztopin s CO2 ali H2 za analizo izotopske sestave O in H		*
PLINSKI KLIMATOGRAF GC-MSD – kromatograf! (napaka)	Fizikalno-kemijske analize		O2	2015	Napredni materiali		Milena Horvat	Milena.Horvat@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
PLINSKI KROMATOGRAF	Fizikalno-kemijske analize		O2	1998	Napredni materiali		Ester Heath	Ester.Sepic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
PLINSKI KROMATOGRAF HP 6890	Fizikalno-kemijske analize		O2	1995	Napredni materiali		Ester Heath	Ester.Sepic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Plinski kromatograf z masnoselektivnim detektorjem MS/MS načinom delovanja	Fizikalno-kemijske analize	Institut "Jožef Stefan"	O2	2010	Napredni materiali	48.47	Ester Heath	Ester.Sepic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	149885.1	Analiza organskih onesnažil v okoljskih vzorcih		*
AVTOMAT.MERIL.ZA SPECIACIJO HG	Merilniki, merilni sistemi		O2	2011	Napredni materiali		Jože Kotnik	Joze.Kotnik@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
HP GE DETECTOR Z ELEKTRONIKO	Detektorji		O2	2015	Napredni materiali		Milena Horvat	Milena.Horvat@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
GE-DETEKTOR	Detektorji		O2	2000	Napredni materiali		Ljudmila Benedik	Ljudmila.Benedik@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
GERMANIJEV DETEKTOR	Detektorji		O2	1988	Napredni materiali		Borut Smodiš	Borut.Smodis@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
ICP-MS AGILENT 7900	Spektrometrija		O2	2015	Napredni materiali		Radmila Milačič	Radmila.Milacic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
MULTI SPEKTROMETER MC-ICPMS	Spektrometrija		O2	2015	Napredni materiali		Milena Horvat	Milena.Horvat@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS		Namenjen določitvi izotopske sestave težjih elementov, kot sta Pb in Hg. Je hibridni masni spektrometer, ki združuje prednost odlične ionizacije v induktivni plazmi in preciznega merjenja, zato instrument odlikuje velika natančnost (0,001%) merjenja izotopskega razmerja elementov.		*
SCINTILACIJSKI SPEKTROMETER	Spektrometrija		O2	2015	Napredni materiali		Milena Horvat	Milena.Horvat@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
MASNI SPEKTROMETER ZA STABILNE	Spektrometrija		O2	2015	Napredni materiali		Milena Horvat	Milena.Horvat@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
MASNI SPEKTROMETER ICP MS QQQ	Spektrometrija		O2	2015	Napredni materiali		Milena Horvat	Milena.Horvat@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS		Namenjen je precizni kontroli procesov v reakcijsko/kolizijski celici in izvajanju tandemskih MS/MS operacij. Zagotavlja zanesljivo določitev sledov elementov, katerih razmerje med maso in nabojem je manjše od 80 AMU ne glede na kompleksnost sestave vzorcev. Ta instrument zato omogoča določanje elementov v sledovih, ki jih klasični ICP MS ne zmore.		*
MASNI SPEKTROMETER AB SCIEX	Spektrometrija		O2	2015	Napredni materiali		Milena Horvat	Milena.Horvat@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
GC-MSD AGILENT	Spektrometrija		O2	2014	Napredni materiali		Ester Heath	Ester.Sepic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Merilni sistem za nevtronsko aktivacijsko analizo in gama spektrometrijo	Spektrometrija	Institut "Jožef Stefan"	O2	2003	Napredni materiali	38.6	Milena Horvat	Milena.Horvat@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	70881.63	Uporablja se za določanje naravnih in umetnih radionuklidov v različnih vzorcih iz okolja (okoljski, biološki vzorci, sedimenti, tla…)		*
Masni spektrometer z induktivno sklopljeno plazmo ICP-MS	Spektrometrija	Institut "Jožef Stefan"	O2	2010	Napredni materiali	52.74	Radmila Milačič	Radmila.Milacic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	191069	Določanje celotnih koncentracij elementov in njihovih kemijskih zvrsti v vzorcih iz okolja in v bioloških vzorcih.		*
GC-C-IRMS (Gas Chromatograph – Combustion – Isope Ratio Mass Spectrometer)	Spektrometrija	Institut "Jožef Stefan"	O2	2004	Napredni materiali	58.86	Milena Horvat	Milena.Horvat@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	243141.67	Analiza izotopske sestave vodika, ogljika in dušika v organskih spojinah po ločbi s plinskim kromatografom		*
GC/HPLC/ICP-MS	Spektrometrija	Institut "Jožef Stefan"	O2	2005	Napredni materiali	59.87	Milena Horvat	Milena.Horvat@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	251649.52	Uporablja se za določanje elementov in njihovih zvrsti v različnih vzorcih (okoljski, biološki vzorci...).		*
Masni spektrometer visoke ločljivosti s tekočinskim kromatografom, z API in MALDI ionizacijami in Q-Tof masnima analizatorjema	Spektrometrija	Institut "Jožef Stefan"	O2	2006	Napredni materiali	125.1	Milena Horvat	Milena.Horvat@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	806123.7	Masnospektrometrične analize organskih spojin, proteinov in drugih biomolekul z direktnim uvajanjem vzorca ali preko LC oz. nano LC. Določitev elementne sestave z HRMS analizo. Določitev strukture ionov z MS-MS meritvami.		*
MASNI SPEKTROMETER S PLINSKIM	Spektrometrija		O2	2005	Napredni materiali		Sonja Lojen	Sonja.Lojen@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
MASNI SPEKTROMETER	Spektrometrija		O2	1995	Napredni materiali		Sonja Lojen	Sonja.Lojen@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
OPTICNI MIKROSKOP OPTON	Mikroskopija		O2	1991	Napredni materiali		Stojan Žigon	Stojan.Zigon@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
LABORATORIJSKA PEC astro	Oprema za obdelovanje površin		K9	1987	Nanotehnologija & Napredni materiali		Silvo Zupančič	Silvo.Zupancic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Sistem za pulzno lasersko depozicijo PLD z elementarno karakterizacijo in spremljajočo opremo	Oprema za obdelovanje površin	Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)	K9	2012	Nanotehnologija & Napredni materiali	60	Matjaž Spreitzer	Matjaz.Spreitzer@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	912436	Pulzno lasersko nanašanje je tehnika za pripravo tankih plasti pretežno anorganske narave. Dobavljen sistem je namenjen za rast »plast-po-plasti« in tako omogoča pripravo visoko-kvalitetnih tankih plasti in strukturiranje na nanoskopskem nivoju. Sistem je opremljen z več komponentami. Za odstranjevanje materiala iz tarče uporabljamo KrF ekscimerni laser z energijo do 700 mJ na pulz in najvišjo hitrost pulzev 50 Hz. Za nastavitev energije laserja uporabljamo atenuator, za njegovo diagnosticiranje pa ustrezno kamero.		*
POROZIMETER	Merilniki, merilni sistemi		K9	1989	Nanotehnologija & Napredni materiali		Silvo Zupančič	Silvo.Zupancic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Praškovni rentgenski difraktometer	Fizikalno-kemijske analize	Institut "Jožef Stefan"	K9	2002	Nanotehnologija & Napredni materiali	46.04	Srečo Davor Škapin	Sreco.Skapin@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	134161.38	Praškovna rentgenska analiza		*
XRD sistem	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)	K9	2012	Nanotehnologija & Napredni materiali	60	Matjaž Spreitzer	Matjaz.Spreitzer@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	570070	XRD sistem omogoča analizo praškastih vzorcev, tankih plasti, kakor tudi vzorcev nepravilnih oblik. Na primarni strani imamo možnost uporabe programirane divergenčne reže, hibridnega monokromatorja in kolimatorja z dvojno režo. Hibridni monokromator poskrbi za paralelen žarek in odstranitev Kα2 sevanja. Njegova uporaba sega vse od fazne analize s paralelnim curkom, do visokoločljivostnih analiz epitaksialnih plasti. Kolimator na primarni strani se uporablja v kombinaciji s točkovnim fokusom rentgenske cevi za kvantitativno analizo teksturiranosti in in-plane analizo.		*
VISOKOTEMPERATURNI ROTACIJSKI	Fizikalno-kemijske analize		K9	2000	Nanotehnologija & Napredni materiali		Matjaž Spreitzer	Matjaz.Spreitzer@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
laboratorij za procesiranje in karakterizacijo nanodelcev	Ostala oprema	Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)	K8	2011	Nanotehnologija	60	Darko Makovec	Darko.Makovec@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	124487	Oprema obsega laboratorij opremljen z degistoriji, procesno in merilno opremo: laserski granulometer in avtoklav.		*
Vektorski mrežni analizator	Fizikalno-kemijske analize	Institut "Jožef Stefan"	K8	2003	Nanotehnologija & Napredni materiali	45.65	Darja Lisjak	Darja.Lisjak@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	130782.84	Elektromagnetne meritve pri 0.04-40 GHz		*
Magnetometer	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)	K8	2011	Nanotehnologija & Napredni materiali	60	Darko Makovec	Darko.Makovec@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	133140	Magnetometer je namenjen osnovni karakterizaciji magnetnih materialov. Z njim merimo krivulje magnetizacije v odvisnosti od zunanjega magnetnega polja. Merjena veličina je magneti moment vzorca, ki ga običajno preračunamo v masno magnetizacijo, torej moment na enoto mase. Meritve lahko izvajamo le pri sobni temperaturi. Največje magnetno polje, ki ga lahko dosežemo je odvisno od velikosti reže med elektromagnetoma (glej tabelo). Z velikostjo reže je tudi omejena velikost vzorca, ki ga lahko vstavimo v magnetometer.		*
Merilnik specifične površine	Merilniki, merilni sistemi	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K7	2010	Nanotehnologija & Napredni materiali	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Sašo Šturm	Saso.Sturm@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	32017	Merilnik omogoča meritve specifične površine, porazdelitev velikosti mezopor, skupno specifično površino por.		*
Instrument za energijski test za varistorje	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K7	2012	Nanotehnologija & Napredni materiali	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Slavko Bernik	Slavko.Bernik@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	34822	Instrument za energijsko testiranje varistorjev s tokovnim impulzom pravokotne oblike trajanja 2ms, glede na standard IEC 61643-1.		*
Mikrovalovno-radiacijska peč za sintezo in sintranje	Ostala oprema	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K7	2010	Nanotehnologija & Napredni materiali	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Slavko Bernik	Slavko.Bernik@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	52474	Oprema za sintezo in procesiranje nanostrukturnih materialov		*
Brezkontaktni dilatometer	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K7	2011	Nanotehnologija & Napredni materiali	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Slavko Bernik	Slavko.Bernik@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	59400	Oprema za karakterizacijo skrčka/raztezka materialov.		*
Kvantni interferometer z magnetronom s tresočo glavo SUID VSM	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K7	2011	Nanotehnologija & Napredni materiali	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Slavko Bernik	Slavko.Bernik@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	111200	Omogoča merjenje zelo šibkih magnetnih polj v zelo kratkem času. Ima široko temperaturno območje delovanja, je zmožen ustvariti zelo visoka zunanja magnetna polja in je neobčutljiv na obliko vzorca.		*
ANALIZO ZETA POTENCIALA	Fizikalno-kemijske analize		K7	2014	Nanotehnologija & Napredni materiali		Sašo Šturm	Saso.Sturm@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Porozimeter	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K7	2010	Nanotehnologija & Napredni materiali	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Sašo Šturm	Saso.Sturm@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	50814	Porozimeter za karakterizacijo nano in mikro prahov ter sintranih keramičnih materialov.		*
Zeta meter	Fizikalno-kemijske analize	Institut "Jožef Stefan"	K7	2002	Nanotehnologija & Napredni materiali	38.79	Sašo Šturm	Saso.Sturm@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	72502	Oprema je namenjena merjenju zeta potenciala delcev v vodnih in nevodnih medijih v ombočju pH vrednosti od 1-14.		*
Naprava za hitro sintranje keramike v plazmi	Ostala oprema	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K7	2011	Nanotehnologija & Napredni materiali	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Sašo Šturm	Saso.Sturm@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	251962	Prednost so občutno nižje temperature, kot tudi znatno nižje plesni tlak kot pri konvencionalni tehniki stiskanja in sintranja. To omogoča proizvodnjo materialov z izjemnimi lastnostmi, na primer: nanomateriali, FGM, kompozitni materiali, polprevodniški materiali za termoelektrično uporabo, bakrene in aluminijaste zlitine in intermetalni materiali, keramika visokih zmogljivosti.		*
SISTEM ZA OPAZOV.VZORCEV	Mikroskopija		K7	2015	Nanotehnologija & Napredni materiali		Sašo Šturm	Saso.Sturm@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Mikroskop na atomsko silo	Mikroskopija	Institut "Jožef Stefan"	K7	2007	Nanotehnologija & Napredni materiali	51.86	Spomenka Kobe	Spomenka.Kobe@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	183609	Oprema je namenjena za merjenje lokalnih lastnosti materialov, kot sta morfologija ali magnetno polje, s pomočjo sonde, ki se nahaja zelo blizu površine. Omogoča kvalitativno in kvantitativno analizo.		*
Visoko. optični mikroskop	Mikroskopija		K7	2007	Nanotehnologija & Napredni materiali		Sašo Šturm	Saso.Sturm@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Računalniško krmiljen sistem za laserski razrez keramike	Laserji	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K5	2011	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	103503	Oprema za analizo materialov in keramičnih struktur		*
MERILNIK HISTERERNIH ZANK	Merilniki, merilni sistemi		K5	2000	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika		Tadej Rojac	Tadej.Rojac@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Ročna stiskalnica	Ostala oprema	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K5	2011	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	1800	Oprema za procesiranje LTCC keramike.		*
Kalibrator tlaka	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K5	2010	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	16933	Oprema za procesiranje LTCC keramike.		*
Tenziometer	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K5	2010	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	19500	Optični tenziometer omogoča meritve površinskih napetosti tekočin, medfazne napetosti in kontaktne kote tekočin na trdni podlagah.		*
Plinski piknometer z nadgradnjo	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K5	2012	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	28212	Piknometer se uporablja za določitev obsega in gostote delcev in prahu.		*
Klimatska komora	Ostala oprema	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K5	2011	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	28342	Oprema za analizo materialov in keramičnih struktur.		*
Suha komora	Ostala oprema	Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)	K5	2011	Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	60	Tadej Rojac	Tadej.Rojac@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	30957	MBRAUN Glovebox delovne postaje so namenjene za delo v inertni atmosferi na nivoju raziskovalnih laboratorijev do večjihindustrijskih aplikacij. Vsaka suha komora je posebejo premljena z O2 in H2O detektorjem ter ločenim sistemom za odstanjevanje kisika in vode.		*
Žaga za razrez keramike	Ostala oprema	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K5	2010	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	36301	Oprema za procesiranje LTCC keramike.		*
Atritorski mlin	Ostala oprema	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K5	2012	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	42000	Mlin za mletje oksidnih keramičnih prahov.		*
Laboratorijska izostatska stiskalnica	Ostala oprema	Institut "Jožef Stefan"	K5	2004	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	36.4	Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	52228.54	Izostasko stiskanje, maksimalni pritisk 400 Mpa, temperatura 80oC.		*
Brizgalni tiskalnik za keramične sole	Ostala oprema	Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)	K5	2011	Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	60	Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	52307	Kapljični tiskalnik je orodje za direktno oblikovanje 2D (nano)struktur iz polimernih solov ali koloidnih disperzij brez kritične stopnje odstranjevanja materiala, kot je značilno za litografske tehnike. Tekočine morajo imeti primerne reološke lastnosti, predvsem viskoznost, površinsko napetost in primeren omakalni kot na izbrani podlagi. Natančnost nanašanja je odvisna od velikosti kapelj, ki jo kontroliramo tako z lastnostmi tekočine kot z pogoji tiskanja. Debelina posameznega nanosa običajno znaša od nekaj nm do nekaj 10 nm. Večino keramičnih 2D struktur po nanosu toplotno obdelamo, pri čemer je temperatura odvisna od namena uporabe in temperaturne obstojnosti podlage.		*
Reometer	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K5	2010	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	56653	Opreme za karakterizacijo suspenzij, uporabno v industriji npr. pri oblikovanju izdelkov s sitotiskom in brizgalnim tiskanjem.		*
Zeta meter in merilec velikosti delcev	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K5	2012	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	59745	Instrument za dolocanje stabilnosti disperzij, omogoca meritve zeta potenciala na osnovi Dopplerjevega efekta		*
Diferenčni dinamični kalorimeter (temperaturno območje: – 180ºC do + 700ºC)	Fizikalno-kemijske analize	Institut "Jožef Stefan"	K5	2008	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	37.44	Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	61000	Diferenčni dinamični kalorimeter (DSC) je aparatura, s katero določamo entalpijske spremembe in temperature prehodov, ki so posledica različnih kemijskih ali fizikalnih procesov (kemijske reakcije, fazne premene,...) med segrevanjem in/ali ohlajanjem vzorcev po izbranem temperaturnem programu in v izbrani atmosferi. Metoda je primerna za analizo trdnih in tekočih vzorcev z masami od nekaj mg do nekaj 10 mg v temperaturnem območju od -180ºC do + 700ºC.		*
Aparatura za termično analizo	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K5	2011	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	75323	Oprema za karakterizacijo keramičnih suspenzij s termično analizo.		*
Dilatometer	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K5	2010	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	79624	Oprema za karakterizacijo skrčka/raztezka materialov.		*
Sistem za merjenje toplotne prevodnosti	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K5	2012	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	90000	Inštrument za določanje toplotne prevodnosti, toplotne difuzivnosti in specifične toplotne kapacitivnosti trdnih snovi, tekočin, prahov, past, pene kot tudi laminatov.		*
Laboratorijska naprava za naparevanje in naprševanje Leybold UNIVX 300	Oprema za obdelovanje površin	Institut "Jožef Stefan"	K5	2002	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	43.54	Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	112852.05	Naprševanje kovinskih elektrod na različne materiale. Možnost naprševanja do treh različnih kovinskih plasti v enem ciklusu.		*
Peč za žganje LTCC keramike z računalniškim za krmiljenjem	Ostala oprema	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K5	2010	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	118297	Peč je prirejena za žganje LTCC keramike oziroma debeloplasnih materialov in struktur.		*
Sistem za in situ karakterizacijo vzorcev in TEM nosilec za več vzorcev	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K5	2011	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	197520	Omogoča in situ AFM in električno karakterizacijo vzorcev v presevnem elektronskem mikroskopu (TEM).		*
Inkjet printer za vzorčenje nanostruktur materialov	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti Vesolje, znanost in tehnologije	K5	2011	Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	8.9318023529412	Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	75920.32	Ink-jet tiskalnik omogoča neposredno vzorčenje 2D (nano) struktur iz polimernih solov alik koloidnih disperzij (črnila) brez kritičnega koraka odstranjevanja materiala, kar je značilno za litografske tehnike. Natančnost nanosa določa velikosti kapljic, ki pa je odvisna od lastnosti tekočine in od parametrov tiskalnika. Debelina nanosa je običajno od nekaj do nekaj deset nm.		*
TERMALNI ANALIZATOR S KALORIME	Fizikalno-kemijske analize		K5	1994	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika		Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Visokoločljivi metalografski in polarizacijski optični mikroskop z zajemom slike in dodatki	Mikroskopija	Institut "Jožef Stefan"	K5	2007	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	37.62	Goran Dražić	Goran.Drazic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	62593.9	Optični mikroskop je namenjen opazovanju in slikanju vzorcev s pomočjo vidne		*
Mikroskop na atomsko silo z grelcem za celico in Ojačevalnik “lock-in”	Mikroskopija	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	K5	2010, 2011, 2012	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Barbara Malič	Barbara.Malic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	211816	Mikroskop na atomsko silo (AFM) z dodanim piezoelektričnim modulom (PFM) za merjenje piezoelektričnega odziva v vertikalni in lateralni smeri.		*
HR TEM mikroskop	Mikroskopija	CENTER ODLIČNOSTI NIZKOOGLJIČNE TEHNOLOGIJE	K5	2013	Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	400	Goran Dražić	Goran.Drazic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	2277900	Preiskovanje mikrostrukture na atomskem nivoju. Določanje kristalne strukture, kemijske sestave, načina vezave in oksidacijskih stanj. Določanje morfologije in velikosti nanodelcev, tomografija.		*
NAPRASEVALNIK	Mikroskopija		K5	2003	Napredni materiali		Silvo Drnovšek	Silvo.Drnovsek@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Aparatura za visokotlačno kromatografijo, računalnik Dell Optex 755 USFF, TP Link TL-SG1008D 10/100/1000 8-port, D-link USB	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologiji	K3	2011	Napredni materiali	22.35	Stojan Stavber	Stojan.Stavber@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	37664.71	HPLC sistem za visokotlačno tekočinsko kromatografijo se uporablja za analitiko posebnih organskih spojin: težko hlapnih in termolabilnih spojin.		*
Paralelni reakcijski sistem s kontinuirnim sistemom spremljanja reakcij v realnem času z metodo FTIR	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologiji	K3	2011	Napredni materiali	22.35	Stojan Stavber	Stojan.Stavber@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	172320	Sistem se uporablja za avtomatizirane vzporedne kemijske sinteze v manjšem obsegu. To vključuje instrument za spremljanje reakcij in analizo. Sistem omogoča natančne določitev pogojev za sintezo (temperatura, pH, tlak).		*
PLINSKI KROMATOGRAF P-E	Fizikalno-kemijske analize		K1	1989	Nanotehnologija & Napredni materiali		Tomaž Skapin	Tomaz.Skapin@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
PILOTNA NAPRAVA (PROTOTIP)	Ostala oprema		K1	2014	Nanotehnologija & Napredni materiali		Gašper Tavčar	Gasper.Tavcar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS		Je raziskovalno izobraževalni energijski poligon, ki temelji na integraciji najsodobnejših sončnih termalnih tehnologij v enovit sistem ogrevanja in hlajenja prostorov z energijo sonca ter prikazu uporabe 'sonca kot infrastrukture'. Omogoča preskušanje energetskih sklopov toplotnih moči do 60 kW ter prikaz konkretnih sistemskih rešitev z najnovejšimi tehnologijami s področja obnovljivih virov in energetske učinkovitosti.		*
MONOKRISTALNI DIFRAKTOMETER	Fizikalno-kemijske analize		K1	2013	Nanotehnologija & Napredni materiali		Evgeny Goreshnik	Evgeny.Goreshnik@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS		Je sodobna naprava za določitev kristalne strukture. Omogoča hitro zbiranje podatkov z visoko ločljivostjo in določanje struktur spojin z visoko vsebnostjo lahkih atomov. Hladilni sistem omogoča meritve pri temperaturah od 100 do 300 stopinj K.		*
EMISIJSKA MERILNA POSTAJA	Merilniki, merilni sistemi		K1	2005	Nanotehnologija & Napredni materiali		Peter Frkal	Peter.Frkal@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Rentgenski praškovni difraktometer	Spektrometrija	Institut "Jožef Stefan"	K1	2007	Nanotehnologija & Napredni materiali	36.38	Tomaž Skapin	Tomaz.Skapin@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	52000	Praškovni difraktometer za delo z občutljivimi vzorci, snemanje v kapilari.		*
Elementni analizator C,N,H,S,O	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti polimerni materiali in tehnologije	K1	2011	Nanotehnologija & Napredni materiali	15.62	Maja Ponikvar-Svet	maja.ponikvar-svet@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	61887	določanje elementne sestave organskih in anorganskih vzorcev		*
Reometer (Physica MCR301 Modular Compact)	Fizikalno-kemijske analize	Institut "Jožef Stefan"	K1	2005	Nanotehnologija & Napredni materiali	37.63	Gašper Tavčar	Gasper.Tavcar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	62618.4	Oprema je namenjena merjenju reoloških lastnosti tekočin, suspenzij in past. Meritve je mogoče opravljati v rotacijskem in oscilacijskem načinu. Omogoča tudi merjenje reoloških lastnosti v magnetnem polju.		*
FTIR spektrometer	Spektrometrija	Institut "Jožef Stefan"	K1	2004	Nanotehnologija & Napredni materiali	38.6	Tomaž Skapin	Tomaz.Skapin@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	70905.75	Raziskovalni FTIR spektrometer srednjega razreda. Območje: 30 - 10.000 cm-1; ločljivost < 0.3 cm-1. Dodatna oprema: visokotemperaturna celica, nizkotemperaturna celica, fotoakustični detektor.
Ramanski spektrometer	Spektrometrija	Institut "Jožef Stefan"	K1	2010	Nanotehnologija & Napredni materiali	45.93	Gašper Tavčar	Gasper.Tavcar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	133200	Oprema je v prvi vrsti namenjena karakterizaciji in identifikaciji spojin in materialov in omogoča nedestruktivno analizo praktično brez priprave vzorca.		*
Masni spektrometer	Spektrometrija	Institut "Jožef Stefan"	K1	2012	Nanotehnologija & Napredni materiali	39.14	Gašper Tavčar	Gasper.Tavcar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	144840	Oprema je montirana na vakuumski sistem in je namenjena karakterizaciji in identifikaciji plinskih komponent v plazmi in analizi plinskih komponent mešanic plinov.		*
Merilna oprema za izvrednotenje prototipov detektorjev	Detektorji	Institut "Jožef Stefan"	F9	2004	Napredni materiali	35.42	Marko Mikuž	Marko.Mikuz@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	43886.04	Modularna elektronika je vgrajena v več eksperimentalnih postavitev		*
Nadgradnja identifikacije delcev v detektorju Belle	Detektorji	Institut "Jožef Stefan"	F9	2008	Napredni materiali	112.61	Marko Mikuž	Marko.Mikuz@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	700000	Oprema vgrajena v detektor Belle v KEK, Tsukuba, Japonska		*
INFORTREND ESDS FC TO SAS	Detektorji		F9	2017	Napredni materiali		Dejan Lesjak	Dejan.Lesjak@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
STREŽNIK INFORTREND ESDS FC	Računalništvo		F9	2014	Napredni materiali		Borut Paul Kerševan	Borut.Kersevan@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
NAPAJALNIK CAMAC	Detektorji		F9	1986	Napredni materiali		Marko Starič	Marko.Staric@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Nadradnja TIER-1 demonstratorja	Detektorji	Institut "Jožef Stefan"	F9	2005	Napredni materiali	35.41	Marko Mikuž	Marko.Mikuz@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	43805.2	Oprema vključena v slovensko Grid vozlišče SiGNET		*
Modularna elektronika	Detektorji	Institut "Jožef Stefan"	F9	2002	Napredni materiali	37.7	Marko Mikuž	Marko.Mikuz@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	63209.41	Modularna elektronika je vgrajena v več eksperimentalnih postavitev		*
TIER-2 demonstrator	Detektorji	Institut "Jožef Stefan"	F9	2003	Napredni materiali	40.1	Marko Mikuž	Marko.Mikuz@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	83616.47	Oprema vključena v slovensko Grid vozlišče SiGNET		*
Nadgradnja grid vozlišča SiGNET	Detektorji	Institut "Jožef Stefan"	F9	2009	Napredni materiali	46.71	Andrej Filipčič	Andrej.Filipcic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	139812	Oprema je namenjena izvajanju računskih nalog in shranjevanju podatkov pri mednarodnih eksperimentih ATLAS, Pierre Auger in Belle. Po dogovoru je na voljo tudi slovenskim raziskovalnim in akademskim ustanovam.		*
TIER-2 grid vozlišče	Detektorji	Institut "Jožef Stefan"	F9	2007	Napredni materiali	46.73	Marko Mikuž	Marko.Mikuz@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	140000	Oprema vključena v slovensko Grid vozlišče SiGNET		*
NADRGRADNJA DISTRIBUIRANEGA RAČUNSKEGA VOZLIŠČA SIGNET ZA HTC	Detektorji	Institut "Jožef Stefan"	F9	2016	Napredni materiali	46.71	Dejan Lesjak	Dejan.Lesjak@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	250000	Oprema je namenjena izvajanju računskih nalog in shranjevanju podatkov pri mednarodnih eksperimentih ATLAS, Pierre Auger in Belle. Po dogovoru je na voljo tudi slovenskim raziskovalnim in akademskim ustanovam.		*
Sledilni sistem za SuperBelle	Detektorji	Institut "Jožef Stefan"	F9	2011	Napredni materiali	125.91149294118	Peter Križan	Peter.Krizan@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	905347.69	Oprema je namenjena meritvi sledi nabitih delcev v magnetnem spektometru Belle.		*
Avtomatski ožičevalnik elektronskih vezij z mikroskopom	Mikroskopija	Institut "Jožef Stefan"	F9	2010	Napredni materiali	43.64	Vladimir Cindro	Vladimir.Cindro@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	113760	Povezovanje elektronskih vezij z Al žico debeline 20-30 mikronov, presledki večji od 80 mikronov		*
CITALEC SLIKOVNIH PLOSC	Ostala oprema		F8	1998	Napredni materiali		Bojan Žefran	Bojan.Zefran@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
NADGRADNJA GRUČE RAČUNALNIŠKI SISTEM HPC	Računalništvo	Institut "Jožef Stefan"	F8	2015	Napredni materiali	0.05 Eur/cpu hour	Bojan Žefran		Storitev izvaja raziskovalec IJS	90616.23	Oprema je namenjena numerično intenzivnim računom. Oprema vsebuje računska vozlišča, vsako ima 2 procesorja, vsak s 14 jedri in 256GB spomina.
SISTEM ZA GAMA SPEKTROMETRIJO	Spektrometrija		F8	2017	Napredni materiali		Vladimir Radulović	Vladimir.Radulovic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
MIKROSKOP AXIOTRON 2 AF	Mikroskopija		F8	1995	Napredni materiali		Bojan Žefran	Bojan.Zefran@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
REG. FEM.SUN.LASERSKI IZVOR	Laserji		F7	2013	Nanotehnologija & Napredni materiali		Tomaž Mertelj	Tomaz.Mertelj@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS		Za časovno ločljivo optično spektroskopijo. Za dani sistem je značilen kompromis med energijo v sunku in šumom, ki je dosežen z repeticijo nekaj 100kHz. To omogoča energije sunkov v področju nekaj uJ pri valovni dolžini v okolici 800 nm in obenem boljšo stabilnost od izvorov z nižjo repeticijo. Sistem omogoča tudi dostop do oscilatorskih sunkov z repeticijo 80 MHz in energijo v področju nJ pri enaki valovni dolžini.		*
LASER V6 VERDI	Laserji		F7	2003	Nanotehnologija & Napredni materiali		Dragan Mihailović	Dragan.Mihailovic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
LASER VERDI 10	Laserji		F7	2002	Nanotehnologija & Napredni materiali		Tomaž Mertelj	Tomaz.Mertelj@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
LASER MIRA WCS 900	Laserji		F7	1998	Nanotehnologija & Napredni materiali		Tomaž Mertelj	Tomaz.Mertelj@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
LASERSKI OJACEVALNIK	Laserji		F7	1997	Nanotehnologija & Napredni materiali		Dragan Mihailović	Dragan.Mihailovic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
ProtoLaser LDI	Laserji	Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)	F7	2011	Nanotehnologija & Napredni materiali	60	Damjan Svetin	Damjan.Svetin@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	192203	Platforma na osnovi kontinualnega UV laserja, 2D akusto-optičnih deflektorjev in visoko-natančne xy mize v prvi fazi omogoča neposredno optično nanolitografijo z ločljivostjo 1µm na področju 10x10cm. Zasnova platforme omogoča relativno preprosto nadgradnjo na ONL z uporabo imerzijskega objektiva in s tem povečanje ločljivosti na 200 nm. Z uporabo dveh laserskih virov različnih valovnih dolžin in večjo adaptacijo platforme je moč doseči ločljivost postopka na rangu 50 nm.		*
Dopolnilni elementi za razširitev titan-safirnega laserskega sistema	Laserji	Center odličnosti polimerni materiali in tehnologije	F7	2012	Nanotehnologija & Napredni materiali	3	Luka Cmok	Luka.Cmok@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	202490.82			*
Sistem za lasersko mikrostrukturiranje in analizo tankoplastnih struktur	Laserji	Institut "Jožef Stefan"	F7	2011	Nanotehnologija & Napredni materiali	45.066192941176	Dragan Mihailović	dragan.mihailovic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	216802.64	Hitra prototipna izdelava natančnih mikrostrukur s pomočjo direktne laserske fotolitografije. Karakterizacija tankoplastnih struktur.		*
RTA termično procesiranje	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)	F7	2010	Nanotehnologija & Napredni materiali	60	Dragan Mihailović	Dragan.Mihailovic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	47499	grelni sistem za hitro termalno obdelavo vzorcev z širokim temperaturnim razponom. Peč lahko greje od sobne temperature do 1200C z hitrostjo gretja 50K na sekundo. Je majhna namizna peč za gretje vzorcev, ki niso večji od 20 x 20mm. Sestavljena je iz kvarčne cevi katero lahko vakuumiramo ali jo napolnimo z želenim plinom. Trenutno imamo na voljo termično obdelavo v štirih različnih atmosferah. Lahko uporabimo kompresiran zrak za potrebe oksidacije ali pa jo napolnimo z inertnim plinom kot je dušik ali argon. Za potrebe redukcije je na voljo tudi nitrostar (90%N2,10%H2). Vakuum ki ga lahko dosežemo na tem sistemu je 10-5mbara. Peč programiramo preko ugrajenega kontrolerja, za bolj zahtevne temperaturne režime pa preko računalnika. Na controlerju lahko spremljamo trenutno temperaturo na vzorcu in programirano temperaturo. V peč lahko sprogramiramo do 32 različnih temperaturnih korakov v enem programu.		*
Sistem za hidrotermalno analizo nanomaterialov	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)	F7	2010	Nanotehnologija	50	Aleš Mrzel	Ales.Mrzel@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	79454	sistem za pripravo različnih prekurzorskih materialov za izvedbo hidrotermalne sinteze nekaterih enadimenzionalnih materialov in procesiranje različnih produktov same sinteze.		*
NADGRADNJA MBE SISTEMA	Fizikalno-kemijske analize	Institut "Jožef Stefan"	F7	2016	Nanotehnologija & Napredni materiali	10.8	Dragan Mihailović	Dragan.Mihailovic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	91820.86	Namenjen je sintezi kristalnih tankih plasti dihalkogenidov prehodnih kovin. Velikost substratov je omejena na 9 mm x 9 mm, temperatura rasti doseže 800 °C. Na voljo so rasti s halkogenima elementoma S in Se ter prehodnimi kovinami Ta, Mo, Nb, W.		*
Supervodni magnet z optičnim kriostatom	Magneti	Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)	F7	2012	Nanotehnologija & Napredni materiali	60	Tomaž Mertelj	Tomaz.Mertelj@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	133375	Superprevodni magnet omogoča optične meritve v prečnem in vzdolžnem magnetnem polju v magnetnem polju do 7 T v območju temperature 1.5-300K.		*
Femtosekundni sistem za mešanje optičnih frekvenc	Fizikalno-kemijske analize	Institut "Jožef Stefan"	F7	2002	Nanotehnologija & Napredni materiali	46.92	Dragan Mihailović	Dragan.Mihailovic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	141575.19	Osnovna sestavna komponenta sistema za mešanje optičnih frekvenc.		*
Sistem za optično femtosekundno spektroskopijo z ultravisoko časovno ločljivostjo	Spektrometrija	Institut "Jožef Stefan"	F7	2010	Nanotehnologija & Napredni materiali	50.02	Tomaž Mertelj	Tomaz.Mertelj@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	167988	Časovno ločljiva optična spektroskopija kondenzirane snovi.		*
Sistem za ekscitacijsko spektroskopijo neravnovesnih pojavov	Spektrometrija	Institut "Jožef Stefan"	F7	2008	Nanotehnologija & Napredni materiali	67.91	Dragan Mihailović	Dragan.Mihailovic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	320000	Razširitev območja dosegljivih experimentalnih parametrov pri ekscitacijski spektroskopiji neravnovesnih pojavov in uvedba novih metod za analizo neravnovesnih sprememb elektronskih stanj in strukture z izboljšano površinsko občutljivostjo.		*
Femtosekundni sistem za mešanje optičnih frekvenc s priborom	Fizikalno-kemijske analize	Institut "Jožef Stefan"	F7	2004	Nanotehnologija & Napredni materiali	44.61	Dragan Mihailović	dragan.mihailovic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	121964.78	Pikosekundna spektroskopija v IR področju z nastavljivo valovno dolžino svetlobe, posebej še nelinearno resonančno optično mešanje frekvenc na površinah.		*
Elipsometer	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)	F7	2011	Nanotehnologija & Napredni materiali	60	Dragan Mihailović	dragan.mihailovic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	225096	Optična elipsometrija je nedestruktivna tehnika, ki se uporablja za raziskave površin, mejnih plasti in tankih filmov. Osnovni princip elipsometrije je merjenje sprememb polarizacije svetlobnega žarka, ki se odbije od vzorca. Odbito svetlobo zajemamo s pomočjo mikroskopskih objektivov, kar v kombinaciji s prostorsko razločeno detekcijo signala (slikanje) zmanjša velikost preiskovane površine na območje mikrometrov. Objektivi imajo ekstremno dolgo delovno razdaljo, kar omogoča analizo površin makroskopskih objektov. Dobimo povečano sliko vzorca v odbiti svetlobi po prehodu skozi set polarizacijskih optičnih elementov. Sliko zajemamo s pomočjo CCD kamere z nastavljivimi časi zaklopa in ojačanja intenzitete. Lateralna ločljivost sistema je 1 μm, kar omogoča izvajanje elipsometričnih meritev na mikrostrukturiranih vzorcih. Možna je sprotna analiza večih izbranih območij hkrati.		*
Tipalni mikroskop in risalnik s spremljajočo opremo	Mikroskopija	Institut "Jožef Stefan"	F7	2004	Nanotehnologija & Napredni materiali	47.95	Dragan Mihailović	Dragan.Mihailovic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	150337.82	Slikanje topografije površine in manipulacije nanostruktur ter sistem za risanje vezij s pomočjo elektronske litografije.		*
ND: YAG LASER VELIKE MOČI	Laserji		F5	2016	Fotonika		Peter Jeglič	Peter.Jeglic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Visokoenergetski sunkovni pikosekundni laser	Laserji	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	F5	2012	Fotonika	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Igor Muševič	Igor.Musevic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	81600	Za raziskave dinamike na področju mikrolaserjev, optičnih mikroresonatorjev in fotonskih mikroelementov na osnovi mehke snovi.		*
Laserska pinceta	Laserji	Institut "Jožef Stefan"	F5	2007	Fotonika	46.89	Igor Muševič	Igor.Musevic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	141378	Sistem omogočija manipulacijo mikronskih in submikronskih delcev v mehki snovi, npr. koloidov trdnih delcev v tekočih kristalih		*
Nadgradnja dvobarvne laserske pincete	Laserji	Institut "Jožef Stefan"	F5	2010	Fotonika	47.9	Igor Muševič	Igor.Musevic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	149933	Uporaba za optično manipuliranje koloidnih delcev.		*
Sistem za dvofotonsko polimerizacijo v 3D	Oprema za obdelovanje površin	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	F5	2011	Napredni materiali	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Igor Muševič	Igor.Musevic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	285692	Namizni sistem za lasersko litografijo, ki omogoča visoke zahteve tridimenzionalnih fotonskih kristalnih struktur (ali npr. za ustvarjanje tridimenzionalnih odrov za biologijo, vezja v mikro in nanofluidiki).		*
PPMS MERILNI SISTEM	Merilniki, merilni sistemi		F5	2009	Napredni materiali		Janez Dolinšek	Jani.Dolinsek@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
MIKROVALOVNI DETEKTOR IN-SB	Detektorji		F5	2012	Napredni materiali		Andrej Zorko	Andrej.Zorko@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
SPEKTROMETRSKI SISTEM NMR SERV	Spektrometrija		F5	2012	Napredni materiali		Igor Serša	Igor.Sersa@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
SUPERPREVODNI NMR MAGNET	Spektrometrija		F5	2012	Napredni materiali		Igor Muševič	Igor.Musevic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
NMR ANALIZATOR MATERIALOV	Spektrometrija		F5	2011	Napredni materiali		Janez Dolinšek	Jani.Dolinsek@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
NMR MAGNET	Spektrometrija		F5	2005	Napredni materiali		Janez Dolinšek	Jani.Dolinsek@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
SISTEM ZA ZAJEM SIGNALA ZA NMR	Spektrometrija		F5	2001	Napredni materiali		Igor Muševič	Igor.Musevic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
INDUSTRIJSKI NMR ANALIZATOR	Spektrometrija		F5	1996	Napredni materiali		Silvano Mendizza	Silvano.Mendizza@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
SISTEM PNDS PREMIER II	Fizikalno-kemijske analize		F5	2015	Napredni materiali		Zdravko Kutnjak	Zdravko.Kutnjak@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
PULZNI EPR SPEKTROMETER	Spektrometrija		F5	1998	Napredni materiali		Matej Pregelj	Matej.Pregelj@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
NMR TOMOGRAFSKI SISTEM S PRIBO	Spektrometrija		F5	1987	Napredni materiali		Igor Muševič	Igor.Musevic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
LOČEVALNIK DELCEV V AEROSOLU	Fizikalno-kemijske analize		F5	2011	Nanotehnologija		Maja Remškar	Maja.Remskar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
INSTRUMENT ZA DINAMIČNO	Fizikalno-kemijske analize		F5	2011	Nanotehnologija		Maja Remškar	Maja.Remskar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Spektrograf z detektorjem	Spektrometrija	Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)	F5	2013	Napredni materiali	60	Igor Muševič	Igor.Musevic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	49761	Optični spektrograf s kamero za bližnje infrardeče področje od 800 nm do 1700 nm. Spektrograf s kamero je vgrajen v obstoječi optični spektrografski sistem, ki je zgrajen okoli laserske pincete in trenutno omogoča spektralno analizo izsevane svetlobe v vidnem območju od 400 nm do 950 nm. Z vgradnjo dodatnega optičnega spektrografa in kamere za bližnje IR področje se poveča spektralni obseg merilnega instrumenta za istočasni zajem in analizo spektra izsevane svetlobe v področju od 400 nm do 1700 nm.		*
Difuzijska sonda za NMR spektrometer in Li modul (nadgradnja obstoječega sistema na IJS-F5)	Spektrometrija	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	F5	2010	Napredni materiali	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Boštjan Zalar	Bostjan.Zalar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	52892	Instrument za merjenje fizikalnih lastnosti.		*
Visokofrekvenčni mikrovalovni izvor za EPR spektroskopijo v 100 in več GHz območju	Spektrometrija	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	F5	2011	Napredni materiali	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Denis Arčon	Denis.Arcon@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	61585	Pri zelo visokih frekvencah (npr. 360GHz) je zaradi majhnega vira izhodne moči potreben visokofrekvečni mikrovalovni izvor.		*
ATR-FTIR spektrometer	Spektrometrija	Institut "Jožef Stefan"	F5	2009	Napredni materiali	44.15	Polona Umek	Polona.Umek@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	118035	Spektrometer PerkinElmer “Spectrum 400 Series” omogoča snemanje v srednjem IR območju (MID: 4000-650 cm-1) in daljnem IR območju (FAR: 700-300 cm-1) v transmisiji (KBr tablete) ali atenuirani totalni refleksiji (ATR). Dodatna oprema: • diamantni nastavek za ATR (atenuirana totalna refleksija) z diamantnim kristalom omogoča snemanje spektrov med 80-200 °C • nastavek za difuzno refleksijo (DRIFT) omogoča snemanje spektrov težavnih praškastih vzorcev s tehniko suspenzije v KBr ter trdnih vzorcev z abrazijsko tehniko.	49240	*
Magnetno-resonančni relaksometer (s hitrim cikliranjem magnetnega polja)	Spektrometrija	Institut "Jožef Stefan"	F5	2002	Napredni materiali	45.46	Tomaž Apih	Tomaz.Apih@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	129196.9	Meritve molekularne dinamike snovi		*
SUPER PREVODNI MAGNET S KRIOST	Magneti		F5	1996	Napredni materiali		Janez Dolinšek	Jani.Dolinsek@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
SUPERPREVODNI MAGNET	Magneti		F5	1993	Napredni materiali		Janez Dolinšek	Jani.Dolinsek@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Sistem za fluorescenčno mikrospektroskopijo	Spektrometrija	Institut "Jožef Stefan"	F5	2007	Industrijska biotehnologija & Fotonika	47.58	Janez Štrancar	Janez.Strancar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	147200	Oprema je namenjena raziskovanju celic in interakcij v bioloških sistemih s pomočjo fluorescenčne konfokalne mikrospektroskopije in omogoča zajem fluorescenčnega emisijskega spektra (spektralna ločljivost nekaj nm) znotraj posameznih slikovnih elementov 3D slike ločljivosti 180 nm x 180 nm x 450 nm s časovno ločljivostjo 10 ms. Za raziskave ni potrebna fiksacija biološkega materiala, ker sistem omogoča tudi in-vitro poskuse na vitalnih celičnih linijah direktno v gojilnih posodah z ultra-tankim dnom.		*
Visokoločljivi 500 MHz spectrometer na magnetno resonanco za trdno snov	Spektrometrija	Institut "Jožef Stefan"	F5	2008	Napredni materiali	108.81	Boštjan Zalar	Bostjan.Zalar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	667668	Digitalni visokoločljivi spektrometer omogoča eno- in večddimenzionalne magnetoresonančne meritve lokalnih statičnih in dinamičnih lastnosti na molekularni in atomski skali v mehkih in trdnih snoveh, merjenje difuzijske konstante ter mikroslikanje z magnetno resonanco.		*
TOMOGRAFSKI MAGNET Z GRADIENTN	Magneti		F5	1986	Napredni materiali		Igor Muševič	Igor.Musevic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
SUPRAPREVODNI MAGNET	Magneti		F5	1974	Napredni materiali		Janez Dolinšek	Jani.Dolinsek@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Refraktometer	Merilniki, merilni sistemi	Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)	F5	2013	Napredni materiali	50	Igor Muševič	Igor.Musevic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	21170	Z zelo preprostim postopkom refraktometer neposredno kaže izmerjeno vrednost (v refrakcijski indeks ali Brix (%), selektivno) v številki, skupaj s temperaturo na zaslonu. Ta refraktometer omogoča enostavne meritve.		*
Vzorčevalnik delcev na vodni osnovi	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	F5	2010	Nanotehnologija & Napredni materiali	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Maja Remškar	Maja.Remskar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	28602	Števec deluje na osnovi vodnega oplaščevanja. Detektira delce od 5nm do 3mikrometre. Je prenosljiv, omogoča serijsko povezljivost z osebnim računalnikom.		*
Dodatki za optično detekcijo elektronske in jedrske magnetne resonance	Fizikalno-kemijske analize	Institut "Jožef Stefan"	F5	2002	Fotonika	35.1	Denis Arčon	Denis.Arcon@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	41105.3	Določitev fizikalno-kemijskih lastnosti trdnih in tekočih snovi		*
SPEKTROMETER EPR IN PRIBOR	Spektrometrija		F5	1991	Nanotehnologija & Napredni materiali		Janez Štrancar	Janez.Strancar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Obnovitev 9,6 GHz spektrometra za elektronsko paramagnetno resonanco	Spektrometrija	Institut "Jožef Stefan"	F5	2005	Nanotehnologija & Napredni materiali	55.44	Igor Muševič	Igor.Musevic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	214015.54	Določitev fizikalno-kemijskih lastnosti trdnih in tekočih snovi		*
Sistem za visokotemperaturno dielektrično karakterizacijo	Fizikalno-kemijske analize	Institut "Jožef Stefan"	F5	2007	Nanotehnologija & Napredni materiali	37.92	Vid Bobnar	Vid.Bobnar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	65087	Oprema je namenjena za meritve dielektričnih lastnosti snovi pri visokih temperaturah, do 1000K		*
Nanoreaktor	Ostala oprema	Institut "Jožef Stefan"	F5	2002	Nanotehnologija	39.03	Polona Umek	Polona.Umek@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	74577.23	Kemijske reakcije na molekularnem nivoju	38884
Sistem za manipulacijo mikrobnih površin	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Institut "Jožef Stefan"	F5	2007	Nanotehnologija & Industrijska biotehnologija	40.82	Janez Štrancar	Janez.Strancar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	89750	Oprema je namenjena gojenju nenevarnih mikrobov za študij interakcije z nanomateriali s pomočjo magnetnih resonanc in mikrospektroskopij; še posebej za tiste namene, kjer mora biti kraj gojenja v neposredni bližini navedene eksperimentalne opreme. Oprema je specializirana za gojenje bakterij v tekočih gojiščih in zadošča osnovnim varnostnim standardom.		*
Optična pinceta	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	F5	2010	Fotonika	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Igor Muševič	Igor.Musevic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	110563	Sistem infrardeča optična pinceta se uporablja za manipulacijo mikrometrskih struktur pod invertnim optičnim mikroskopom.		*
Računalniška gruča	Računalništvo	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	F5	2010, 2012	Mikro- in nano-elektronika	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Slobodan Žumer	Slobodan.Zumer@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	163616	Računalniška gruča se uporablja na področju zahtevnih računalniških simulacij osnovnih problemov iz statične fizike, fizike trdnih in mehkih snovi, modeliranju kompozitnih snovi in elektrooptičnih elementov.		*
Optična pinceta z dodatki (nadgradnja obstoječega sistema na IJS-F5)	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	F5	2010, 2011	Fotonika	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Janez Štrancar	Janez.Strancar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	182471	Sistem za manipulacijo in karakterizacijo interakcij med celicami in materiali.		*
MAGNETOMETER SQUID	Fizikalno-kemijske analize	Institut "Jožef Stefan"	F5	2016	Nanotehnologija & Napredni materiali	120	Janez Dolinšek	Jani.Dolinsek@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	639376	Osnova magnetometra je SQUID detektor, ki omogoča delovanje magnetometra v klasičnem načinu in kot VSM (»vibrating sample magnetometer«). Možno je meriti istosmerno (dc) magnetizacijo, izmenično (ac) magnetizacijo, magnetizacijske M(H) krivulje ter časovni razpad termoremanentne magnetizacije na dolgih časovnih skalah.		*
Analizator ionov v tekočih kristalih	Fizikalno-kemijske analize	Institut "Jožef Stefan"	F5	2002	Nanotehnologija & Napredni materiali	36.5	Igor Muševič	Igor.Musevic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	53056	Določitev fizikalno-kemijskih lastnosti tekočih kristalov	39555
Sistem za ultra čiščenje površin (nadgradnja obstoječega sistema na IJS-F5)	Oprema za obdelovanje površin	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	F5	2011	Nanotehnologija & Napredni materiali	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Igor Muševič	Igor.Musevic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	107389	Nadgradnja sistema za plazemsko čiščenje površin v argonovi (Ar) atmosferi.		*
Sistem za čiščenje substratov	Oprema za obdelovanje površin	Institut "Jožef Stefan"	F5	2007	Nanotehnologija & Napredni materiali	43.79	Igor Muševič	Igor.Musevic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	115000	Oprema omogoča pripravo ultračistih površin za nanos tankih prevlek mehkih in trdnih snovi, predvsem tekočih kristalov.		*
MIKROSKOP DVOFOTONSKI 3D STEED	Mikroskopija		F5	2017	Nanotehnologija & Napredni materiali		Igor Muševič	Igor.Musevic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Modul za mikroskopijo flim (nadgrajen sistem za konfokalno fluorescenčno mikrospektroskopijo)	Mikroskopija	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	F5	2012	Nanotehnologija & Napredni materiali	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Janez Štrancar	Janez.Strancar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	65520	Nadgrajen sistem CCD kamere v pikosekundnem (ps) rangu. PicoStar HR: <300 ps @ <110 MHz, 18 mm ojačanje slike.		*
Vrstični tunelski mikroskop	Mikroskopija	Institut "Jožef Stefan"	F5	2005	Nanotehnologija & Napredni materiali	55.01	Maja Remškar	Maja.Remskar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	210353.14	Fizika površin		*
Vrstični mikroskop v bližnjem optičnem polju	Mikroskopija	Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti	F5	2011, 2012	Nanotehnologija & Napredni materiali	Cena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.	Maja Remškar	Maja.Remskar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	218946	Trije načini delovanja znotraj istega instrumenta: SNOM, AFM in konfokalni Raman.		*
Jedrsko magnetno resonančni vrstični tunelski mikroskop – NMR STM	Mikroskopija	Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)	F5	2013	Nanotehnologija & Napredni materiali	60	Erik Zupanič	Erik.Zupanic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	263192	nadgradnja obstoječega ultra-visoko vakuumskega LT-STM sistema z NMR opremo z namenom razvoja nove tehnike za manipulacijo in zaznavanje posameznih spinov. Magnetno polje bo ustvarjeno s kombinacijo trajnih magnetov in superprevodnih tuljav, modulacija v tunelskem toku pa se bo zaznavala s pomočjo visokofrekvenčnih ojačevalcev in spektralnih analizatorjev. Glava mikroskopa bo ustrezno modificirana in del detekcijske elektronike bo vgrajen v sam ultra visoko vakuumski (UHV) sistem. Sistem bo nadgrajen z nizko-temperaturno efuzijsko celico za naparjevanje organskih molekul.		*
Nizkotemperaturni vrstični tunelski mikroskop – LT STM	Mikroskopija	Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)	F5	2012	Nanotehnologija & Napredni materiali	60	Erik Zupanič	Erik.Zupanic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	583214	Oprema omogoča (poleg priprave vzorcev) deloz nizkotemperaturnim STM-om pri temperaturi pod 1K, kar omogoča izvrstno energijsko ločljivost.		*
MIKROSKOP AFM Z DVEMA MONITORJ	Mikroskopija		F5	1994	Nanotehnologija & Napredni materiali		Igor Muševič	Igor.Musevic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
TUNELSKI MIKROSKOP, SCANER,UVV	Mikroskopija		F5	1990	Nanotehnologija & Napredni materiali		Erik Zupanič	Erik.Zupanic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Naprava za funkcionalizacijo površin novih materialov	Oprema za obdelovanje površin	Institut "Jožef Stefan"	F4	2007	Nanotehnologija & Napredni materiali	47.35	Janez Kovač	Janez.Kovac@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	145260	Naprava omogoča pripravo tankih večkomponentnih anorganskih in organskih plasti z naparevanjem v vakuumu z namenom študija osnovnih procesov med rastjo tankih plasti in interakcijo s podlago, kakor tudi funkcionalizacijo površin. Omogočena je toplotna obdelava tankih plasti, obdelava z ionskimi curki in funkcionalizacija površin s plazmo. Naprava je direktno povezana z XPS spektrometrom za karakterizacijo obdelanih površin in nanesenih tankih plasti brez izpostave zračni atmosferi.		*
XPS spektrometer	Spektrometrija	Institut "Jožef Stefan"	F4	2005	Nanotehnologija & Napredni materiali	76.73	Janez Kovač	Janez.Kovac@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	395000	Preiskava površin in tankih plasti z rentgensko fotoelektronsko spektroskopijo - XPS (ESCA). Spektrometer XPS omogoča kvantitativno analizo sestave površine in določitev valenčnega stanja, oziroma tipa kemijske vezi v plasti debeline 3 - 5 nm. Vzorci so lahko kovinski, oksidni, kompozitni, praškasti, keramični, polimerni... Možna je preiskava porazdelitve elementov po globini vzorca v smeri od površine proti notranjosti do globine okoli 200 nm.		*
Masni spektrometer sekundarnih ionov SIMS	Spektrometrija	Institut "Jožef Stefan"	F4	2011	Nanotehnologija & Napredni materiali	100.60647058824	Janez Kovač	Janez.Kovac@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	690000	TOF–SIMS spektrometer na osnovi masne spektroskopije molekul s površine omogoča precizno analizo elemntne sestave in molekularne strukture površin, tankih plasti in faznih mej organskih in anorganskih trdih materialov, kot so: polimeri, biomateriali, polprevodniki, prevleke, barve, kovine, keramika, steklo, zdravila... Masna ločljivost instrumenta je okoli 10.000, lateralno ločljivostjo je okoli 100 nm in analizna globina 2-3 monoplasti.		*
Mikroskop na atomsko silo AFM	Mikroskopija	Institut "Jožef Stefan"	F4	2006	Nanotehnologija & Napredni materiali	35.61	Janez Kovač	Janez.Kovac@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	45450	AFM mikroskop je namenjen preiskavi topografije površine trdnih vzorcev z visoko ločljivostjo. Možna je preiskava področij velikosti do 50 mikronov z natančnostjo 0,1 nm. Možna je analiza hrapavosti, porazdelitev magnetnega in električnega polja, litografija in meritev interakcijskih sil med iglo in podlago.		*
NAPRAVA ZA NANOS TRDIH PREVLEK	Oprema za obdelovanje površin		F3	2008	Napredni materiali		Peter Panjan	Peter.Panjan@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
PULZNI NAPAJALNIK	Oprema za obdelovanje površin		F3	2007	Napredni materiali		Peter Panjan	Peter.Panjan@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Magnetronska izvira in napajalniki za vgradnjo v napravo za nanašanje niozkotemperaturnih prevlek	Oprema za obdelovanje površin	Institut "Jožef Stefan"	F3	2007	Napredni materiali	36.43	Peter Panjan	Peter.Panjan@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	52450	Nanos trdih PVD prevlek pri temperaturi pod 200 °C z pulznim magnetronskim naprševanjem.		*
Naprava za merjenje oprijemljivosti prevlek	Oprema za obdelovanje površin	Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)	F3	2011	Napredni materiali	60	Peter Panjan	Peter.Panjan@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	78358	Merilnik razenja se uporablja za ovrednotenje adhezije (oprijemljivosti) tankih plasti. Z diamantno konico razimo po površini vzorca z vnaprej določeno obremenitvijo (ali naraščajočo obrementivijo). Med meritvijo se beležijo naslednji parametri: sila razenja, koeficient razenja, trenutna globina razenja in akustična emisija. Po končanem postopku razenja izvedemo še naknadno analizo, ki vključuje: trajna globina raze, zajem optične slike celotne raze in vizualna določitev kritičnih obremenitev. Konfiguracija opreme je še posebej primerna za analizo nanoplastnih in nanokompozitnih trdih prevlek.		*
Naprava za nanos PVD prevlek	Oprema za obdelovanje površin	Institut "Jožef Stefan"	F3	2002	Napredni materiali	64.52	Peter Panjan	Peter.Panjan@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	291252.25	Nanos trdih PVD prevlek za zaščito orodij in strojnih delov		*
MERILNIK ADHEZIJE	Merilniki, merilni sistemi		F3	1995	Napredni materiali		Peter Panjan	Peter.Panjan@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Merilnik mikrotrdote	Merilniki, merilni sistemi	Institut "Jožef Stefan"	F3	2004	Napredni materiali	37.61	Peter Panjan	Peter.Panjan@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	62455.37	Merjenje mikrotrdote in modula indentacije z metodo odtiskovanja z diamantno konico. Obtežitev konice je od 40 mg do 100 g.		*
NAPRAVA ZA REAKTIVNO IONSKI PR	Oprema za obdelovanje površin		F3	1985	Napredni materiali		Damjan Matelič	Damjan.Matelic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
KOMORA VAKUMSKA	Oprema za obdelovanje površin		F3	1976	Napredni materiali		Peter Panjan	Peter.Panjan@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Posodobitev profilometra	Oprema za obdelovanje površin	Institut "Jožef Stefan"	F3	2007	Napredni materiali	36.43	Peter Panjan	Peter.Panjan@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	52406	Analiza topografije površine podlag pred in po nanosu prevlek. Merjenje debeline tankih plasti.		*
Naprava za merjenje triboloških lastnosti prevlek	Fizikalno-kemijske analize	Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)	F3	2011	Napredni materiali	60	Peter Panjan	Peter.Panjan@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	87358	Tribometer se uporablja za ovrednotenje trenja in obrabe. V osnovni konfiguraciji gre za standardni sistem »pin-on-disk« (konica na disku), kjer je disk vzorec, konica pa standardna kroglica. Med meritvijo se beleži koeficient trenja kot funkcija časa. Po končani meritvi izmerimo presek preko nastale raze s profilometrom (ni del te opreme). Z uporabo teh podatkov izračunamo stopnjo obrabe. Izvajamo lahko tudi zahtevnejše analize obrabe z ostalimi tehnikami (optična mikroskopija, SEM, EDS itd.). Konfiguracija tribometra je bistvena za karakterizacijo triboloških lastnosti trdih prevlek, s posebnim poudarkom na tistih z nizko obrabo, kot so nanostrutkurne trde prevleke.		*
VISOKOTEMPERATURNI TRIBOMETER	Fizikalno-kemijske analize	Institut "Jožef Stefan"	F3	2016	Napredni materiali	12.06	Miha Čekada	Miha.Cekada@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	102550.8	Instrument omogoča meritev koeficienta trenja pri visokih temperaturah (do 1000 °C). Geometrijske zahteve za vzorce so ozko zastavljene, za detajle se obrnite na kontaktni naslov.		*
DIGITALNI MIKROSKOP SMARTZOOM	Mikroskopija	Institut "Jožef Stefan"	F3	2016	Napredni materiali	6.77	Miha Čekada	Miha.Cekada@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	57560.88	Namenjen je opazovanju in slikanju velikih vzorcev kompliciranih geometrij pri srednje veliki povečavi (35x-350x). Največja višina vzorca je 120 mm, največja masa pa 4 kg.		*
NAPRASEVALNIK SPUTRON	Mikroskopija		F3	1978	Napredni materiali		Peter Panjan	Peter.Panjan@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
VBRIZGALNI SISTEM ALFA DELCEV	Ostala oprema		F2	2000	Fotonika		Primož Pelicon	Primoz.Pelicon@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
TL ANALIZATOR Z MIKRO PROCESOR	Detektorji		F2	1985	Fotonika		Sandi Gobec	Sandi.Gobec@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
ŠTEVEC QUANTULUS 1220-003	Detektorji		F2	2008	Fotonika		Jasmina Kožar Logar	Jasmina.Logar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS		tekočinskoscintilacijski števec		*
GERMANIJEV POLPREVODNISKI DETE	Detektorji		F2	1999	Fotonika		Branko Vodenik	Branko.Vodenik@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
DETEKTOR LB 1231	Detektorji		F2	2005	Fotonika		Matej Lipoglavšek	Matej.Lipoglavsek@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
DETEKTOR	Detektorji		F2	1989	Fotonika		Branko Vodenik	Branko.Vodenik@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
DELOVNA POSTAJA ALPHA 3000 (računalniška oprema)	Računalništvo		F2	1994	Fotonika		Branko Vodenik	Branko.Vodenik@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Sistemi EXAFS OriginPro v 8.1 software	Spektrometrija	CENTER ODLIČNOSTI NIZKOOGLJIČNE TEHNOLOGIJE	F2	2011	Fotonika		Iztok Arčon	Iztok.Arcon@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	16991.11	To je software za analizo spektrov EXAFS na osebnem racunalniku in ni prenosljiv.		*
Partially depleted PIPS detector (Sistem za EXAFS – Rentgenske absorpcijske komore in celice s kontrolerji)	Spektrometrija	CENTER ODLIČNOSTI NIZKOOGLJIČNE TEHNOLOGIJE	F2	2010	Fotonika		Iztok Arčon	Iztok.Arcon@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	6732	Fluorescenčne in transmisijske meritve rentgenskih absorpcijskih spektrov s sinhrotronsko svetlobo pri sinhrotrnskih laboratorijih za strukturno analizo materialov v času odobrenih merilnih časov pri teh sinhrotronih (ESRF, ELETTRA)		*
Ionski izvor velike svetlosti	Detektorji	Institut "Jožef Stefan"	F2	2012	Fotonika	88.6	Primož Pelicon	Primoz.Pelicon@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	567120	Oprema je namenjena tvorbi visokoenergijskega fokusiranega protonskega žarka za določanje elementnih porazdelitev v bioloških in geoloških vzorcih in za mikroobdelavo.		*
Clover detektor	Detektorji	Institut "Jožef Stefan"	F2	2005	Fotonika	40.76	Primož Pelicon	primoz.pelicon@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	89284.57	Detektor za žarke gama, sestavljen iz štirih koaksialnih germanijevih kristalov tipa N, rezkanih v končno obliko in sestavljenih v strukturo, ki spominja na štiriperesno deteljico		*
AXAS-M sistem za flouroscenčne meritve absorpcijskih spektrov (EXAFS)	Spektrometrija	CENTER ODLIČNOSTI NIZKOOGLJIČNE TEHNOLOGIJE	F2	2010	Fotonika		Iztok Arčon	Iztok.Arcon@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	14624.4	Fluorescenčne meritve rentgenskih absorpcijskih spektrov s sinhrotronsko svetlobo pri sinhrotrnskih laboratorijih v času odobrenih merilnih časov		*
Detekcijski sistem s hlajeno CCD-kamero	Detektorji	Institut "Jožef Stefan"	F2	2001	Fotonika	37.95	Primož Pelicon	Primoz.Pelicon@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	65391.41	Termoelektrično hlajen CCD detektor je sestavni del visokoločljivega spektrometra rentgenskih žarkov. Omogoča pozicijsko občutljivo detekcijo rentgenskih fotonov v energijskem področju 1 - 10 keV.		*
oprema za intenzivno računanje	Računalništvo	Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)	F1		Mikro- in nano-elektronika	60	Rok Žitko	Rok.Zitko@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	144236	Prostor za izvajanje intenzivnega računanja (RC), za katerega je potrebno zagotoviti ustrezne okoljske parametre s centralnim spremljanjem, obveščanjem, alarmiranjem in shranjevanjem		*
Heterogeni multiprocesorski sistem – GRID	Računalništvo	Institut "Jožef Stefan"	F1	2008	Mikro- in nano-elektronika	54.97	Svjetlana Fajfer	Svjetlana.Fajfer@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	210000	Numerično modeliranje kompleksnih sistemov		*
Nadgradnja heterogene računalniške gruče	Računalništvo	Institut "Jožef Stefan"	F1	2012	Mikro- in nano-elektronika	38.262	Jernej Fesel Kamenik	jernej.kamenik@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	134912	Oprema se uporablja za numerične izračune na področju fizike kondenzirane snovi, biofizike in fizike osnovnih delcev in polj		*
SINTETIZATOR SLOVENSKEGA GOVOR	Računalništvo		E9	2013	Mikro- in nano-elektronika		Tomaž Šef	Tomaz.Sef@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Računalniška oprema za razvoj porazdeljenih inteligentnih sistemov	Računalništvo	Institut "Jožef Stefan"	E9	2004	Mikro- in nano-elektronika	42.47	Matjaž Gams	Matjaz.Gams@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	103792.37	Oprema je obsegala v mrežo povezane strežnike, namizne in prenosne računalnike, periferne in mobilne naprave ter pripadajočo programsko opremo. Namenjena je bila raziskavam in razvoju metod porazdeljenih inteligentnih sistemov. Z njo smo izvajali raziskovalne in razvojne projekte na področjih strojnega učenja, odkrivanja zakonitosti v podatkih, večagentnih sistemov, semantičnega spleta, evolucijskega računanja in jezikovnih tehnologij.		*
Računalniška oprema za raziskave ambientalne inteligence	Računalništvo	Institut "Jožef Stefan"	E9	2011	Mikro- in nano-elektronika	34.290563529412	Matjaž Gams	Matjaz.Gams@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	120704.79	Oprema je namenjena zajemanju lokacije, orientacije in pospeškov nosljivih značk z namenom rekonstrukcije človeške poze. Na voljo so tudi procesni strežniki za procesiranje zajetih podatkov.		*
Računalniška oprema za razvoj inteligentnih internetnih storitev	Računalništvo	Institut "Jožef Stefan"	E9	2003	Mikro- in nano-elektronika	40.82	Matjaž Gams	Matjaz.Gams@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	89787.63	Oprema je obsegala v mrežo povezane strežnike, namizne in prenosne računalnike, periferne in mobilne naprave ter pripadajočo programsko opremo. Namenjena je bila raziskavam in razvoju metod za podporo inteligentnih internetnih storitev, ki so računsko in pomnilniško zahtevne. Uporabljena je bila za dostopanje do informacij na globalnem omrežju, iskanje zakonitosti v velikih porazdeljenih zbirkah podatkov in podpori govornih komunikacij.		*
Nadgradnja računalniške gruče II	Računalništvo	Center odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologiji	E8	2012	Mikro- in nano-elektronika	22.35	Sašo Džeroski	Saso.Dzeroski@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	61703.2	Visokozmogljiv računalnik za kompleksno analizo podatkov.		*
Računalniška gruča	Računalništvo	Center odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologiji	E8	2011	Mikro- in nano-elektronika	22.35	Sašo Džeroski	Saso.Dzeroski@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	71850	Visokozmogljiv računalnik za kompleksno analizo podatkov.		*
Oprema za analitiko podatkov in tekstov	Računalništvo	Institut "Jožef Stefan"	E8	2010	Mikro- in nano-elektronika	41.07	Igor Mozetič	Igor.Mozetic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	91925	Oprema služi raziskovalnem delu, ki obsega razvoj in testiranje novih metod za analiziranje velikih količin podatkov in tekstov in njihovega spreminjanja skozi čas		*
Nadgradnja računalniške gruče III	Računalništvo	Center odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologiji	E8	2013	Mikro- in nano-elektronika	22.35	Sašo Džeroski	Saso.Dzeroski@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	96044.5	Visokozmogljiv računalnik za kompleksno analizo podatkov.		*
OPREMA ZA ANALITIKOV TOKOV TEKSTOV IN PODATKOVZA KT RAČUNALNIŠKI OBLAK	Računalništvo	Institut "Jožef Stefan"	E8	2016	Mikro- in nano-elektronika	41.07	Igor Mozetič	Igor.Mozetic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	134300	Supermicro strežnik		*
Oprema za zajemanja in semantično analizo multimedijskih podatkov	Računalništvo	Institut "Jožef Stefan"	E8	2008	Mikro- in nano-elektronika	73.79	Nada Lavrač	Nada.Lavrac@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	148000	Zajemanje, shranjevanje, obdelava in semantični analiza velikih količin podatkov. Poudarek je na multimedijskih vsebinah (analiza slik in videa), tekstovnih in spletnih vsebinah in zbirkah strukturiranih podatkov.		*
Računalniška oprema za semantične informacijske storitve	Računalništvo	Institut "Jožef Stefan"	E8	2004	Mikro- in nano-elektronika	44.24	Nada Lavrač	Nada.Lavrac@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	118827.26	Razvoj novih računalniških programov in metod za semantično analizo velikih podatkovnih in tekstovnih zbirk.		*
Raziskovalni vzporedni računalnik	Računalništvo	Institut "Jožef Stefan"	E6	2004	Mikro- in nano-elektronika	36.54	Roman Trobec	Roman.Trobec@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	53344.08	Vzporedni računalnik je namenjen razvoju in izvajanju računsko zahtevnih programov, študiju zahtevnosti računanja in proučevanju povezovalnih omrežji.		*
Laboratorij za antropocentrične študije in računalniško forenziko	Računalništvo	Institut "Jožef Stefan"	E5	2007	Mikro- in nano-elektronika	38.17	Tomaž Klobučar	tomaz.klobucar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	67200	Evalvacija uporabnosti programske opreme		*
Sistem za merjenje obratovalnih parametrov agregata	Ostala oprema	CENTER ODLIČNOSTI NIZKOOGLJIČNE TEHNOLOGIJE	E2	2011	Napredne proizvodnje tehnologije	50	Vladimir Jovan	Vladimir.Jovan@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	13033.22	Sistem sestoji iz računalnika, pretvorniške enote in raznih merilnikov (temperature, tlaka, pretoka) za sprotno merjenje delovanja sistema s PEM gorivnimi celicami.		*
Analizator ULTRAMAT	Ostala oprema	CENTER ODLIČNOSTI NIZKOOGLJIČNE TEHNOLOGIJE	E2	2011	Napredne proizvodnje tehnologije	35	Janko Petrovčič	Janko.Petrovcic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	19761.6	Instrument lahko meri vsebnost CO (CO2) v plinih tudi pri zelo nizkih (ppm) vrednostih	50
Agregat s PEM gorivnimi celicami srednje moči	Ostala oprema	CENTER ODLIČNOSTI NIZKOOGLJIČNE TEHNOLOGIJE	E2	2010	Napredne proizvodnje tehnologije	40	Janko Petrovčič	Janko.Petrovcic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	38640	Generator električne in toplotne energije. Sistem sestoji iz 8 kW sklada gorivnih celic, akumulatorske baterije, DC/DC pretvornika in krmilnega modula.	9
Računalniška in merilno-regulacijska oprema laboratorija za tehnologijo vodenja sistemov	Računalništvo	Institut "Jožef Stefan"	E2	2002	Napredne proizvodnje tehnologije	43.78	Gregor Dolanc	gregor.dolanc@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	45971.96	Meritve EM emisij in analiza EM združljivosti naprav v procesnem okolju; preizkušanje metod vodenja na procesni opremi		*
Računalniška in merilna oprema za upravljanje in diagnosticiranje kompleksnih sistemov	Računalništvo	Institut "Jožef Stefan"	E2	2004	Napredne proizvodnje tehnologije	36.79	Gregor Dolanc	gregor.dolanc@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	55467.4	Meritve akustičnih signalov in vibracij; računalniški zajem in analiza električnih signalov		*
Eksperimentalni energetski sistem s PEM gorivno celico	Ostala oprema	Institut "Jožef Stefan"	E2	2007	Napredne proizvodnje tehnologije	47.67	Gregor Dolanc	gregor.dolanc@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	148000	Eksperimentalni sistem sestavlja 1kW PEM gorivne celice, viri vodika, hranilnik vodika, elektronsko breme in kontrolni sistem za nadzor in vodenje. Sistem je namenjen testiranju različnih podsklopov, ki se uporabljajo pri gradnji sistemov, ki kot energetski vir uporabljajo PEM gorivne celice.		*
SIST.ZA BREZKONTAKT.MERJ.GIB.	Oprema za biološke in biokemijske raziskave		E1	2010	Mikro- in nano-elektronika		Jan Babič	Jan.Babic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
OPTO ELEKTRONSKI MERILNI SISTE	Oprema za biološke in biokemijske raziskave		E1	2004	Mikro- in nano-elektronika		Jan Babič	Jan.Babic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
IZOKINETIČ.DINAMOMETER S4-PRO	Oprema za biološke in biokemijske raziskave		E1	2012	Mikro- in nano-elektronika		Igor Mekjavić	Igor.Mekjavic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS		za preučevanje vplivov različnih protokolov in okoljsko-ergonomskih dejavnikov na stanje mišično-skeletnega sistema pri človeku. Sistem omogoča merjenje moči, navorov in aktivnosti mišic v vseh glavnih sklepih in sklepnih položajih.		*
NAPRAVA PQCT XCT 3000	Oprema za biološke in biokemijske raziskave		E1	2011	Mikro- in nano-elektronika		Igor Mekjavić	Igor.Mekjavic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
HOLOGIC DISCOVERY RENTGENSKA	Oprema za biološke in biokemijske raziskave		E1	2011	Mikro- in nano-elektronika		Igor Mekjavić	Igor.Mekjavic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS		Za rentgensko denzitometrijo, merjenje gostote kosti.		*
Robotska roka LBR IV	Robotika		E1	2010	Napredne proizvodnje tehnologije		Bojan Nemec	Bojan.Nemec@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Robotska roka KUKA LBR iV	Robotika		E1	2010	Napredne proizvodnje tehnologije		Bojan Nemec	Bojan.Nemec@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
ROBOT VECNAMENSKI	Robotika		E1	2002	Napredne proizvodnje tehnologije		Bojan Nemec	Bojan.Nemec@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
HAPTIČNI ROBOT MOOG	Robotika		E1	2014	Napredne proizvodnje tehnologije		Jan Babič	Jan.Babic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Večnamenski raziskovalni robot	Robotika	Institut "Jožef Stefan"	E1	2002	Napredne proizvodnje tehnologije	37.93	Leon Žlajpah	Leon.Zlajpah@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	65181.46	Univerzalni robot, 7 stopenj, nosilnost 10 Kg, frekvenca trajektorije do 700 Hz, regulacija sile na vrhu robota, integriran na mobilni ploščadi.		*
Humanoidni robot	Robotika	Institut "Jožef Stefan"	E1	2007	Napredne proizvodnje tehnologije	39.22	Leon Žlajpah	Leon.Zlajpah@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	76157.9	Imitacija človeškega gibanja in akcij. Robot ima 28 prostostnih stopenj, je visok 63 cm in težek 8,8 Kg		*
Optični merilni sistem za analizo gibanja	Robotika	Institut "Jožef Stefan"	E1	2004	Napredne proizvodnje tehnologije	41.11	Leon Žlajpah	Leon.Zlajpah@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	92262.75	3D merjenje gibanja pri človeku z natančnostjo pod 1 mm s šestimi kamerami, volumen merjenja do 10 m3, frekvenca meritve do 100 Hz. Meritev se izvaja s pomočjo odsevnikov )markerjev=, ki jih nalepimo na točko, ki jo želimo opazovati.		*
Klimatska komora	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Institut "Jožef Stefan"	E1	2005	Mikro- in nano-elektronika	44.57	Leon Žlajpah	Leon.Zlajpah@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	121598.22	Klimatska komora je namenjena testiranju v eksteremnih okoljih. Omogoča simuliranje pogojev od -30° do +50°C, različne stopnje vlažnosti zraka in koncenracijo kisika do višine 15000m. Dimenzije komore so 3m x 3m x 3m.		*
SOCOMEC 1X200KVA (računalnik)	Računalništvo		CMI	1991	Mikro- in nano-elektronika		Matjaž Levstek	Matjaz.Levstek@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Ionska litografija – FIB	Oprema za obdelovanje površin	Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)	CEMM	2012	Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	80	Miran Čeh	Miran.Ceh@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	1018799	FIB je tehnika, ki se uporablja v industriji polprevodnikov, pri vedah o materialih in v biologiji za različne analize, nanašanja in ionsko jedkanje s pomočjo pospešenih ionov. Dvožarkovni sistem je znanstveni instrument, ki je sestavljen iz vrstičnega elektronskega mikroskopa (SEM) za opazovanje površine vzorcev in ionskega snopa za jedkanje oziroma rezanje. Instrument se uporablja za izdelovanje različnih oblik in vzorcev na nanometerskem področju, za pripravo vzorcev za presevno elektronsko mikroskopijo (TEM), 3D tomografijo in nanašanje prevodnih oziroma neprevodnih tankih plasti s pomočjo ionskega snopa.		*
QUANTUM ZA ARM 200CF (KI)	Mikroskopija		CEMM	2015	Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika		Miran Čeh	Miran.Ceh@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
PEELS	Mikroskopija		CEMM	2000	Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika		Miran Čeh	Miran.Ceh@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
PRESEVNI ELEKTRONSKI MIKROSKOP	Mikroskopija		CEMM	1999	Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika		Miran Čeh	Miran.Ceh@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
VRSTIČNI ELEKTRONSKI MIKROSKOP	Mikroskopija		CEMM	1996	Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika		Miran Čeh	Miran.Ceh@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Nizko-energijska ionska erozija materialov	Mikroskopija	Institut "Jožef Stefan"	CEMM	2002	Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	36.6	Miran Čeh	Miran.Ceh@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	53892.47	Oprema je namenjena pripravi vzorcev za presevno elektronsko mikroskopijo (TEM). Nizka energija ionskega jedkanja omogoča pripravo vzorcev brez amorfne plasti na površini vzorca.		*
Vrstični elektronski mikroskop s FEG izvorom elektronov (FEG SEM)	Mikroskopija	Institut "Jožef Stefan"	CEMM	2008	Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika	109.79	Miran Čeh	Miran.Ceh@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	676014	Oprema je namenjena mikrostrukturni karakterizaciji materialov. Gre za vrhunsko aparaturo, ki omogoča slikovne ločljivosti nekaj nm, kvalitativno in kvantitativno kemijsko analizo z mikronskega področja z metodama EDXS in WDXS ter elektronsko litografijo.		*
NAPRAVA ZA IONSKO JEDKANJE	Mikroskopija		CEMM	1994	Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika		Miran Čeh	Miran.Ceh@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
VRSTIČNI ELEKTRONSKI MIKROSKOP	Mikroskopija		CEMM	1994	Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika		Miran Čeh	Miran.Ceh@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
MONOLITH MO-G006	Oprema za biološke in biokemijske raziskave		B3	2017	Industrijska biotehnologija		Milica Perišić Nanut	Milica.Perisic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
KONFOKALNI MIKROSKOP 63,91%(Oprema za visokozmogljivostno vizualizacijo)	Mikroskopija		B3	2011	Industrijska biotehnologija		Janko Kos	Janko.Kos@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
FLURESCENČNI MIKROSKOP	Mikroskopija		B2	2010	Industrijska biotehnologija		Toni Petan	Toni.Petan@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
SISTEM HPLC/MS PROTEIN ID	Oprema za biološke in biokemijske raziskave		B2	2006	Industrijska biotehnologija		Adrijana Leonardi	Adrijana.Leonardi@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
SISTEM ZA VIZUALIZACIJO GELOV	Oprema za biološke in biokemijske raziskave		B2	2004	Industrijska biotehnologija		Adrijana Leonardi	Adrijana.Leonardi@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Pretočni citometer	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Center odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologiji	B2	2011	Industrijska biotehnologija	22.35	Igor Križaj	Igor.Krizaj@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	74940	Pretočni citometer – analizator se bo uporabljal za natančno določanje in ločevanje celic v populaciji, ki imajo določene morfološke ali biokemijske lastnosti.		*
Mikro LC sistem za zbiranje in nanašanje frakcij	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Institut "Jožef Stefan"	B2	2008	Industrijska biotehnologija	39.23	Igor Križaj	Igor.Krizaj@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	76263.84	Sistem za tekočinsko kromatorgrafijo, namenjen separaciji bioloških molekul na osnovi razlik molekul po masi, električnem naboju, biološki afiniteti in adsorbcijskih lastnostih pri višjem tlaku (FPLC/HPLC). Fotometrična detekcija, avtomatsko zbiranje frakcij		*
Nadgradnja N-terminalnega aminokislinskega sekvenatorja	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Center odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologiji	B2	2010	Industrijska biotehnologija	22.35	Igor Križaj	Igor.Krizaj@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	111552.17	Prenova instrumenta za določanje zaporedja proteinov.		*
Oprema za visokozmogljivostno subcelularno vizualizacijo	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Institut "Jožef Stefan"	B2	2010	Industrijska biotehnologija	54.91	Igor Križaj	Igor.Krizaj@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	209563.86	Oprema je namenjena visokozmogljivostni subcelularni vizualizaciji fluorescenčno označenih molekul.		*
SEKVENTOR	Oprema za biološke in biokemijske raziskave		B2	1996	Industrijska biotehnologija		Igor Križaj	Igor.Krizaj@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
PREPARATIVNA ULTRACENTRIFUGA	Oprema za biološke in biokemijske raziskave		B2	1986	Industrijska biotehnologija		Jernej Šribar	Jernej.Sribar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
RENTGENSKI OBSEVALNIK ARRS	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Institut "Jožef Stefan"	B1	2016	Industrijska biotehnologija	57.29	Miha Butinar	Miha.Butinar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	291214	Namenjen je računalniško vodenem tomografskemu 3D rentegenskem slikanju miši in podgan (CT slikanje). Omogoča longitudinalne študije zaradi nizkih energijskih vrednosti rentgenskih žarkov.		*
IVIS SPECTUM IMAGING SYSTEM OM	Spektrometrija		B1	2013	Industrijska biotehnologija		Miha Butinar	Miha.Butinar@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS		Predstavlja osnovno opremo za in vivo slikanje v območju do 850 nm valovne dolžine. Uporablja se za študije biodistribucije, ciljanja in sledenja fluorescenčno označenih proteinov, molekul in zdravilnih učinkovin v različnih živalskih modelih. Ima možnost detekcije bioluminiscence, omogoča 3D tomografsko slikanje z visoko ločljivostjo (do 1 celice), slikanje z več fluorescenčnimi barvili hkrati in kvantifikacijo fluorescenčnih in bioluminiscenčnih signalov.		*
Dvokanalni spektrometer Dvokanalni flurimeter Quanta Master 40	Spektrometrija	Center odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologiji	B1	2013	Industrijska biotehnologija	22.35	Boris Turk	Boris.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	76283.25	Modularni, dvokanalni fluorimeter s Xe lučjo in z nastavljivimi režami monokromatorjev lahko pri merjenju simultano spremlja dve emisijski območji (dvokanalna opcija, T-konfiguracija). Instrument omogoča visokoobčutljivo detekcijo v območju od 200 nm do 900 nm na obeh kanalih.		*
Kristalizacijski robot	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Center odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologiji	B1	2013	Industrijska biotehnologija	22.35	Dušan Turk	Dusan.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	77689.2	Kristalizacijski robot s sposobnostjo pipetiranja nanoliterskih volumnov.		*
Detektor za določevanje mas na osnovi statičnega sipanja svetlobe z detektorjem za določevanje refraktivnega indeksa	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Center odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologiji	B1	2013	Industrijska biotehnologija	22.35	Dušan Turk	Dusan.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	79588.89	Sistem omogoča določevanje molske mase proteinov in nanodelcev in raztopini v območju 10000 Da – 1MDa.		*
Spektrometer za cirkularni dihrI0zem (CD) in hitro mešanje »stopped-flow	Spektrometrija	Center odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologiji	B1	2013	Industrijska biotehnologija	22.35	Boris Turk	Boris.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	90144.47	Spektrometer za cirkularni dihrI0zem (CD) z dodatki za hitro kinetiko: fluorescenca, absorbance in dodatkom za dvono mešanje “stopped-flow” kinetiko. Bonus: linearni dihrI0zem, anizotropija, IR meritve.		*
Kristalizacijska platforma – Sistemi za slikanje kristalov	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Center odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologiji	B1	2013	Industrijska biotehnologija	22.35	Dušan Turk	Dusan.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	532520.57	Sistem je zmožen slikati 500 standardnih plošč s 96 luknjami na sobni temperaturi (20o) in najmanj 150 standardnih plošč s 96 luknjami pri nižji temperaturi (6-10°C). Slikanje je avtomatsko v predvidenih časovnih intervalih.		*
Čitalec mikrotiterskih plošč Tecan	Spektrometrija	Center odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologiji	B1	2012	Industrijska biotehnologija	22.35	Boris Turk	Boris.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	68999.18	Čitalec mikrotiterskih ploščic se uporablja na več stopnjah naših raziskav: za osnovno kvalitativno in kvantitativno spektralno analizo makromolekul, za analizo sprememb v različnih celičnih procesih v živih celicah in analizo specifičnih interakcij med makromolekulami.		*
ITC (Isothermal titration calorimetry)	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Center odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologiji	B1	2012	Industrijska biotehnologija	22.35	Dušan Turk	Dusan.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	77992.32	Proteinska mikrokalorimetrija temelji na meritvah toplote, ki se sprosti ali porabi v interakciji med proteini in ligandi		*
Sistem za določanje kristalnih struktur makromolekul (Bruker X8 PROTEUM)	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Center odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologiji	B1	2011	Industrijska biotehnologija	22.35	Dušan Turk	Dusan.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	621414.94	Sistem za določevanje struktur kristalov makromolekul je sestavljen iz rentgenskega generatorja )vir x-žarkov, detektorja, računalnikov in programske opreme, pribora za kristalizacijo.		*
Nadgradnja mikroskopa Olympus	Mikroskopija	Center odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologiji	B1	2010	Industrijska biotehnologija	22.35	Boris Turk	Boris.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	28390.84	Da bi pod mikroskopom celice ohranile svoje značilnosti, jih moramo gojiti ter jih mikroskopirati pri optimalnih in kontroliranih pogojih, t. j. vzdrževati moramo primerno temperaturo, vsebnost ogljikovega dioksida ter s tem povezano stopnjo kislosti (pH gojišča) ter primerno vlažnost. Za vzdrževanje omenjenih delovnih pogojev med samim potekom mikroskopiranja, mora biti v ta namen na mikroskop pritrjena inkubacijska komora, prirejena tipu mikroskopa, ki vzdržuje optimalne pogoje za rast celic, hkrati pa mora omogočiti operaterju vso potrebno manipulacijo vzorca. Kontrola temperature poteka s pomočjo toplega zraka, ki prihaja iz ločene grelne enote ter nato kroži znotraj inkubacijeske komore.		*
Nadgradnja sistema za izolacijo rekombinantnih proteinov(AKTAexpress Single System)	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Center odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologiji	B1	2010	Industrijska biotehnologija	22.35	Dušan Turk	Dusan.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	43182.5	Delovna postaja AKTAexpress (GE Healthcare) je dvojni kromatografski sistem zasnovan za avtomatizirano dvostopenjsko čiščenje proteinov na afinitetnih kolonah in na kolonah za razsoljevanje in separocijo preko kolon. Zmogljivost sistema je, da lahko očisti do 8 proteinov v enem dnevu.		*
Sistem za izolacijo rekombinantnih proteinov (AKTAexpress Single System)	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Center odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologiji	B1	2010	Industrijska biotehnologija	22.35	Dušan Turk	Dusan.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	50389.02	Delovna postaja AKTAexpress (GE Healthcare) je dvojni kromatografski sistem zasnovan za avtomatizirano dvostopenjsko čiščenje proteinov na afinitetnih kolonah in na kolonah za razsoljevanje in separocijo preko kolon. Zmogljivost sistema je, da lahko očisti do 8 proteinov v enem dnevu.		*
Sistem HPLC(Breeze 2 AO 1525/2707/H/C/2998)	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Center odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologiji	B1	2010	Industrijska biotehnologija	22.35	Dušan Turk	Dusan.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	53852.76	Delovna postaja AKTAexpress (GE Healthcare) je dvojni kromatografski sistem zasnovan za avtomatizirano dvostopenjsko čiščenje proteinov na afinitetnih kolonah in na kolonah za razsoljevanje in separocijo preko kolon. Zmogljivost sistema je, da lahko očisti do 8 proteinov v enem dnevu.		*
Nano-HPLC instrument(EASY-nLC II LC-446)	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Center odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologiji	B1	2010	Industrijska biotehnologija	22.35	Boris Turk	Boris.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	64284	Nanoflow HPLC enota se uporablja za nizko pretočno kromatografsko analizo (10-1000 nL / min). To je neposredno povezan z virom ESI masnega spektrometra tipa Thermo Scientific Orbitrap Velos. Nanoflow HPLC enota je opremljena z vakumskim razplinjevalnikom in temperaturno reguliranim avtovzorčevalnikom (1-10 obseg jul injiciranje).		*
Masni spektrometer Bruker ULTRAFLEXTREME tm maldi tof	Spektrometrija	Center odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologiji	B1	2010	Industrijska biotehnologija	22.35	Boris Turk	Boris.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	792044.16	Visoko resolucijska masna spektrometrija se uporablja za identifikacijo proteinov in njihovih posttranslacijskih modifikacij. To omogoča določitev molekulske mase proteinov in proteinskih kompleksov.		*
Masni spektrometer LTQ Orbitrap XL ETD	Spektrometrija	Institut "Jožef Stefan"	B1	2010	Industrijska biotehnologija	136.37	Marko Fonović	Marko.Fonovic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	901938	Oprema se uporablja za kvantitativno in kvalitativno analizo proteiniv v kompleksnih bioloških vzorcih.		*
Sistem za proizvodnjo rekombinantnih proteinov	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Institut "Jožef Stefan"	B1	2008	Industrijska biotehnologija	61.31	Boris Turk	Boris.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	263938	Sistem predstavlja infrastrukturno osnovo za pridobivanje rekombinantnih proteinov v bakteriji, kvasovki in insektnih celicah.		*
MultiPROBE II HT Digestion Station	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Institut "Jožef Stefan"	B1	2006	Industrijska biotehnologija	41.29	Boris Turk	Boris.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	93769.75	Oprema se uporablja za visokopretočno razgradnjo proteinskih vzorcev s tripsinom. Tripsinska razgradnja je standarden način priprave proteinskih vzorcev za proteomsko analizo.		*
ETTAN SPOTT PICKER	Oprema za biološke in biokemijske raziskave		B1	2006	Industrijska biotehnologija		Marko Fonović	Marko.Fonovic@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
Avtomatizirani sistem za izrezovanje gelov za proteomiko	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Institut "Jožef Stefan"	B1	2006	Industrijska biotehnologija	45.22	Boris Turk	Boris.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	127191.87	Oprema se uporablja za avtomatsko izrezovanje velikega števila proteinskih lis, ločenih s pomočjo 2D elektroforeze	43218
Sistem za vizualizacijo gelov in drugih vzorcev	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Institut "Jožef Stefan"	B1	2005	Industrijska biotehnologija	49.52	Boris Turk	Boris.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	163744.12	Sistem za vizualizacijo se uporablja za detekcijo radiaktivno označenih (3H, 14C, 125I, 32P, 33P, 35S) in z najrazličnejšimi fluorofori označenih vzorcev tako v poliakrilamidnih, agaroznih gelih, membranah in mikromrežah. S kombinacijo različnih laserjev lahko spremljamo prisotnosti enega, dveh ali več označevalcev hkrati. Sistem je do 20x bolj občutljiv od konkurenčnih sistemov in nekaj velikostnih redov občutljivejši od drugih tehnik za detekcijo.		*
Pretočni citometer FACSCalibur (argonski laser 488 nm), Becton Dickinson	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Institut "Jožef Stefan"	B1	2003	Industrijska biotehnologija	36.12	Boris Turk	Boris.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	49824.93	Pretočna citometrija omogoča semikvantitativno in celo kvantitativno analizo fluorescence posameznih celic v suspenziji. Z uporabo protiteles, konjugiranih s fluorokromi, lahko spremljamo izražanje oz. prisotnost posameznih molekul na / v celicah. Z barvili, katerih fluorescenca se spreminja v odvisnosti od pH, oksidativnega stanja, koncentracije določenih ionov,... lahko spremljamo fiziološko stanje celic (mitohondrijski membranski potencial, mikrobicidni potencial nevtrofilcev, prenos signala s površinskih receptorjev). Z barvili, ki se vežejo v DNA, je mogoče analizirati celični ciklus in živost celic. Med pogostejše uporabe sodijo še analiza apoptotskih celic, vrednotenje uspešnosti transfekcije celic s fluorescenčnimi konstrukti in sledenje proliferaciji celic, obarvanih z barvilom CFSE. Najpomembnejše prednosti pretočne citometrije so: hitra priprava vzorcev, hitra analiza velikega števila celic, preučevanje medsebojne povezanosti več lastnosti in možnost statistične obdelave, tako v smislu deleža celic kot intenzitete parametrov.		*
Konfokalna optika za rentgenske žarke	Spektrometrija	Institut "Jožef Stefan"	B1	2003	Industrijska biotehnologija	37.62	Boris Turk	Boris.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	62522.8	Oprema je del sistema za snemanje difrakcijskih vzorcev kristalov makromolekul.		*
Preparativna centrifuga	Oprema za biološke in biokemijske raziskave	Institut "Jožef Stefan"	B1	2002	Industrijska biotehnologija	34.96	Boris Turk	Boris.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS	39944.91	Separacija vzorcev s centrifugiranjem; ločevanje trdne in tekoče faze, pretežno za biološke vzorce		*
NAPRAVA ZA PROTEINE FPLC	Oprema za biološke in biokemijske raziskave		B1	2001	Industrijska biotehnologija		Dušan Turk	Dusan.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
MIKROSKOP INVERNI IX 71	Mikroskopija		B1	2002	Industrijska biotehnologija		Boris Turk	Boris.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
PRETOCNI CITOMETER	Oprema za biološke in biokemijske raziskave		B1	2001	Industrijska biotehnologija		Boris Turk	Boris.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*
SPEKTROMETER CD (ZIROVNIK)	Spektrometrija		B1	1996	Industrijska biotehnologija		Boris Turk	Boris.Turk@ijs.si	Storitev izvaja raziskovalec IJS				*