IDTipLastnikOdsekLeto nabavePodročje KETCena za uporabo (EUR/h)Skrbnik opremeE pošta skrbnikaNačin najema opremeNabavna vrednost (EUR)Opis/namembnost Inventarna številka IJSFotografije
*
Reaktor TRIGAOstala opremaRepublika SlovenijaRIC1966Napredni materiali2000Borut SmodišBorut.Smodis@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS

Reaktor je močan vir sevanja nevtronov in žarkov gama. Uporablja se ga tudi za šolanje in izobraževanje.

28*
Gruča BULL NovaScale R440RačunalništvoR42007Mikro- in nano-elektronikaZoran PetričZoran.Petric@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
RAČUNALNIŠKI SISTEM HPCRačunalništvoR42014Mikro- in nano-elektronikaSandi CimermanSandi.Cimerman@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
VISOKO ZMOGLJIV RAČUNALNIKRačunalništvoR42010Mikro- in nano-elektronikaLeon Cizelj Leon.Cizelj@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
NADGRADNJA GRUČE RAČUNALNIŠKI SISTEM HPCRačunalništvoInstitut "Jožef Stefan"R42015Mikro- in nano-elektronika0.05/jedroSandi CimermanSandi.Cimerman@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS35678.17Računalniška gruča za izvajanje znanstvenih računskih simulacij. Hitra mrežna komunikacija med računskimi vozlišči omogoča dobro skaliranje večprocesnih izračunov. Oprema vsebuje 10 računskih vozlišč po 2 procesorja, vsak z 14 jedri in 256GB spomina.*
NADGRADNJA GRUČE RAČUNALNIŠKI SISTEM HPCRačunalništvoInstitut "Jožef Stefan"R42015Mikro- in nano-elektronika0.05/jedroSandi CimermanSandi.Cimerman@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS145543.56Računalniška gruča za izvajanje znanstvenih računskih simulacij. Hitra mrežna komunikacija med računskimi vozlišči omogoča dobro skaliranje večprocesnih izračunov. Oprema vsebuje 10 računskih vozlišč po 2 procesorja, vsak z 14 jedri in 256GB spomina.*
Računska računalniška gručaRačunalništvoInstitut "Jožef Stefan"R42010Mikro- in nano-elektronika51.37Iztok TiseljIztok.Tiselj@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS179400Oprema se uporablja za simulacije na področjih računalniške fizike (predvsem Monte-Carlo simulacije), jedrske termohidravlike (simulacije v mehaniki tekočin, prenosu toplote in snovi z metodami končnih razlik, končnih volumnov oz. spektralnimi shemami) ter na področju strukturnih analiz (simulacije trdnosti struktur - predvsem z metodami končnih enlementov).*
Računska računalniška gručaRačunalništvoInstitut "Jožef Stefan"R42007Mikro- in nano-elektronika59.67Leon Cizeljleon.cizelj@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS100000Računalniška gruča za izvajanje znanstvenih simulacij. Nadzorno vozlišče ter 18 računskih vozlišč, dva dvo- oz. štiri-jedrna Intel Xeon procesorja na vozlišče, 3GHz, od 8 do 32GB spomina na vozlišče. Gigabitna povezava med vozlišči. 64-bitni Red Hat Enterprise Linux 4 WS, Update 4. Torque čakalni sistem.*
INST.ZA LASERSKO ABLACIJOLaserjiO22015Napredni materialiMilena HorvatMilena.Horvat@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJSInstrument odlikuje visoka preciznost same analize in visoka ločljivost v prostoru in času in možnost serijskih analiz velikega števila majhnih, a natančno pozicioniranih vzorcev (red velikosti µg, prostorska ločljivost reda velikosti nekaj µm). *
ULTRAWAVE ECR SISTEMFizikalno-kemijske analizeO22015Napredni materialiMilena HorvatMilena.Horvat@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJSZa kemijske analize organskega materiala*
SCINTILACIJSKI STEVEC PACARDFizikalno-kemijske analizeO21999Napredni materialiBarbara SvetekBarbara.Svetek@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJSPriprava za ugotavljanje ionizirajočih delcev *
Mikrovalovni sistem za razklope in ekstrakcijeFizikalno-kemijske analizeInstitut "Jožef Stefan"O22008Napredni materiali36.3Milena HorvatMilena.Horvat@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS51327Mikrovalovni sistem je namenjen za razkroj in ekstrakcije večjega števila tako anorganskih kot organskih vzorcev.*
Sistem za karakterizacijo radioaktivnih aerosolov velikosti od 2 do 400 nmFizikalno-kemijske analizeInstitut "Jožef Stefan"O22008Napredni materiali37.14Milena HorvatMilena.Horvat@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS58444Uporablja se za karakterizacijo radioaktivnih aerosolov velikosti od 2 do 400 nm v vzorcih zraka*
IsoPrime MultiFlow BioFizikalno-kemijske analizeInstitut "Jožef Stefan"O22008Napredni materiali39.46Milena HorvatMilena.Horvat@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS78200Ekvilibracija vode oz. vodnih raztopin s CO2 ali H2 za analizo izotopske sestave O in H*
PLINSKI KLIMATOGRAF GC-MSD – kromatograf! (napaka)Fizikalno-kemijske analizeO22015Napredni materialiMilena HorvatMilena.Horvat@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
PLINSKI KROMATOGRAFFizikalno-kemijske analizeO21998Napredni materialiEster HeathEster.Sepic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
PLINSKI KROMATOGRAF HP 6890Fizikalno-kemijske analizeO21995Napredni materialiEster HeathEster.Sepic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Plinski kromatograf z masnoselektivnim detektorjem MS/MS načinom delovanjaFizikalno-kemijske analizeInstitut "Jožef Stefan"O22010Napredni materiali48.47Ester HeathEster.Sepic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS149885.1Analiza organskih onesnažil v okoljskih vzorcih*
AVTOMAT.MERIL.ZA SPECIACIJO HGMerilniki, merilni sistemiO22011Napredni materialiJože KotnikJoze.Kotnik@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
HP GE DETECTOR Z ELEKTRONIKODetektorjiO22015Napredni materialiMilena HorvatMilena.Horvat@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
GE-DETEKTORDetektorjiO22000Napredni materialiLjudmila BenedikLjudmila.Benedik@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
GERMANIJEV DETEKTORDetektorjiO21988Napredni materialiBorut SmodišBorut.Smodis@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
ICP-MS AGILENT 7900SpektrometrijaO22015Napredni materialiRadmila MilačičRadmila.Milacic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
MULTI SPEKTROMETER MC-ICPMSSpektrometrijaO22015Napredni materialiMilena HorvatMilena.Horvat@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJSNamenjen določitvi izotopske sestave težjih elementov, kot sta Pb in Hg. Je hibridni masni spektrometer, ki združuje prednost odlične ionizacije v induktivni plazmi in preciznega merjenja, zato instrument odlikuje velika natančnost (0,001%) merjenja izotopskega razmerja elementov. *
SCINTILACIJSKI SPEKTROMETERSpektrometrijaO22015Napredni materialiMilena HorvatMilena.Horvat@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
MASNI SPEKTROMETER ZA STABILNESpektrometrijaO22015Napredni materialiMilena HorvatMilena.Horvat@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
MASNI SPEKTROMETER ICP MS QQQSpektrometrijaO22015Napredni materialiMilena HorvatMilena.Horvat@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJSNamenjen je precizni kontroli procesov v reakcijsko/kolizijski celici in izvajanju tandemskih MS/MS operacij. Zagotavlja zanesljivo določitev sledov elementov, katerih razmerje med maso in nabojem je manjše od 80 AMU ne glede na kompleksnost sestave vzorcev. Ta instrument zato omogoča določanje elementov v sledovih, ki jih klasični ICP MS ne zmore.*
MASNI SPEKTROMETER AB SCIEXSpektrometrijaO22015Napredni materialiMilena HorvatMilena.Horvat@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
GC-MSD AGILENTSpektrometrijaO22014Napredni materialiEster HeathEster.Sepic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Merilni sistem za nevtronsko aktivacijsko analizo in gama spektrometrijoSpektrometrijaInstitut "Jožef Stefan"O22003Napredni materiali38.6Milena HorvatMilena.Horvat@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS70881.63Uporablja se za določanje naravnih in umetnih radionuklidov v različnih vzorcih iz okolja (okoljski, biološki vzorci, sedimenti, tla…)*
Masni spektrometer z induktivno sklopljeno plazmo ICP-MSSpektrometrijaInstitut "Jožef Stefan"O22010Napredni materiali52.74Radmila MilačičRadmila.Milacic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS191069Določanje celotnih koncentracij elementov in njihovih kemijskih zvrsti v vzorcih iz okolja in v bioloških vzorcih.*
GC-C-IRMS (Gas Chromatograph – Combustion – Isope Ratio Mass Spectrometer)SpektrometrijaInstitut "Jožef Stefan"O22004Napredni materiali58.86Milena HorvatMilena.Horvat@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS243141.67Analiza izotopske sestave vodika, ogljika in dušika v organskih spojinah po ločbi s plinskim kromatografom*
GC/HPLC/ICP-MSSpektrometrijaInstitut "Jožef Stefan"O22005Napredni materiali59.87Milena HorvatMilena.Horvat@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS251649.52Uporablja se za določanje elementov in njihovih zvrsti v različnih vzorcih (okoljski, biološki vzorci...).*
Masni spektrometer visoke ločljivosti s tekočinskim kromatografom, z API in MALDI ionizacijami in Q-Tof masnima analizatorjemaSpektrometrijaInstitut "Jožef Stefan"O22006Napredni materiali125.1Milena HorvatMilena.Horvat@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS806123.7Masnospektrometrične analize organskih spojin, proteinov in drugih biomolekul z direktnim uvajanjem vzorca ali preko LC oz. nano LC. Določitev elementne sestave z HRMS analizo. Določitev strukture ionov z MS-MS meritvami. *
MASNI SPEKTROMETER S PLINSKIMSpektrometrijaO22005Napredni materialiSonja LojenSonja.Lojen@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
MASNI SPEKTROMETERSpektrometrijaO21995Napredni materialiSonja LojenSonja.Lojen@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
OPTICNI MIKROSKOP OPTONMikroskopijaO21991Napredni materialiStojan ŽigonStojan.Zigon@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
LABORATORIJSKA PEC astroOprema za obdelovanje površinK91987Nanotehnologija & Napredni materialiSilvo ZupančičSilvo.Zupancic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Sistem za pulzno lasersko depozicijo PLD z elementarno karakterizacijo in spremljajočo opremoOprema za obdelovanje površinCenter odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)K92012Nanotehnologija & Napredni materiali60Matjaž SpreitzerMatjaz.Spreitzer@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS912436Pulzno lasersko nanašanje je tehnika za pripravo tankih plasti pretežno anorganske narave. Dobavljen sistem je namenjen za rast »plast-po-plasti« in tako omogoča pripravo visoko-kvalitetnih tankih plasti in strukturiranje na nanoskopskem nivoju. Sistem je opremljen z več komponentami. Za odstranjevanje materiala iz tarče uporabljamo KrF ekscimerni laser z energijo do 700 mJ na pulz in najvišjo hitrost pulzev 50 Hz. Za nastavitev energije laserja uporabljamo atenuator, za njegovo diagnosticiranje pa ustrezno kamero. *
POROZIMETERMerilniki, merilni sistemiK91989Nanotehnologija & Napredni materialiSilvo ZupančičSilvo.Zupancic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Praškovni rentgenski difraktometerFizikalno-kemijske analizeInstitut "Jožef Stefan"K92002Nanotehnologija & Napredni materiali46.04Srečo Davor ŠkapinSreco.Skapin@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS134161.38Praškovna rentgenska analiza*
XRD sistemFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)K92012Nanotehnologija & Napredni materiali60Matjaž SpreitzerMatjaz.Spreitzer@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS570070XRD sistem omogoča analizo praškastih vzorcev, tankih plasti, kakor tudi vzorcev nepravilnih oblik. Na primarni strani imamo možnost uporabe programirane divergenčne reže, hibridnega monokromatorja in kolimatorja z dvojno režo. Hibridni monokromator poskrbi za paralelen žarek in odstranitev Kα2 sevanja. Njegova uporaba sega vse od fazne analize s paralelnim curkom, do visokoločljivostnih analiz epitaksialnih plasti. Kolimator na primarni strani se uporablja v kombinaciji s točkovnim fokusom rentgenske cevi za kvantitativno analizo teksturiranosti in in-plane analizo. *
VISOKOTEMPERATURNI ROTACIJSKIFizikalno-kemijske analizeK92000Nanotehnologija & Napredni materialiMatjaž SpreitzerMatjaz.Spreitzer@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
laboratorij za procesiranje in karakterizacijo nanodelcevOstala opremaCenter odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)K82011Nanotehnologija60Darko MakovecDarko.Makovec@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS124487Oprema obsega laboratorij opremljen z degistoriji, procesno in merilno opremo: laserski granulometer in avtoklav.*
Vektorski mrežni analizatorFizikalno-kemijske analizeInstitut "Jožef Stefan"K82003Nanotehnologija & Napredni materiali45.65Darja LisjakDarja.Lisjak@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS130782.84Elektromagnetne meritve pri 0.04-40 GHz*
MagnetometerFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)K82011Nanotehnologija & Napredni materiali60Darko MakovecDarko.Makovec@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS133140Magnetometer je namenjen osnovni karakterizaciji magnetnih materialov. Z njim merimo krivulje magnetizacije v odvisnosti od zunanjega magnetnega polja. Merjena veličina je magneti moment vzorca, ki ga običajno preračunamo v masno magnetizacijo, torej moment na enoto mase. Meritve lahko izvajamo le pri sobni temperaturi. Največje magnetno polje, ki ga lahko dosežemo je odvisno od velikosti reže med elektromagnetoma (glej tabelo). Z velikostjo reže je tudi omejena velikost vzorca, ki ga lahko vstavimo v magnetometer.*
Merilnik specifične površineMerilniki, merilni sistemiCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK72010Nanotehnologija & Napredni materialiCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Sašo ŠturmSaso.Sturm@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS32017Merilnik omogoča meritve specifične površine, porazdelitev velikosti mezopor, skupno specifično površino por.*
Instrument za energijski test za varistorjeFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK72012Nanotehnologija & Napredni materialiCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Slavko BernikSlavko.Bernik@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS34822Instrument za energijsko testiranje varistorjev s tokovnim impulzom pravokotne oblike trajanja 2ms, glede na standard IEC 61643-1. *
Mikrovalovno-radiacijska peč za sintezo in sintranjeOstala opremaCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK72010Nanotehnologija & Napredni materialiCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Slavko BernikSlavko.Bernik@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS52474Oprema za sintezo in procesiranje nanostrukturnih materialov*
Brezkontaktni dilatometerFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK72011Nanotehnologija & Napredni materialiCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Slavko BernikSlavko.Bernik@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS59400Oprema za karakterizacijo skrčka/raztezka materialov. *
Kvantni interferometer z magnetronom s tresočo glavo SUID VSMFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK72011Nanotehnologija & Napredni materialiCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Slavko BernikSlavko.Bernik@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS111200 Omogoča merjenje zelo šibkih magnetnih polj v zelo kratkem času. Ima široko temperaturno območje delovanja, je zmožen ustvariti zelo visoka zunanja magnetna polja in je neobčutljiv na obliko vzorca. *
ANALIZO ZETA POTENCIALAFizikalno-kemijske analizeK72014Nanotehnologija & Napredni materialiSašo ŠturmSaso.Sturm@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
PorozimeterFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK72010Nanotehnologija & Napredni materialiCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Sašo ŠturmSaso.Sturm@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS50814Porozimeter za karakterizacijo nano in mikro prahov ter sintranih keramičnih materialov.*
Zeta meterFizikalno-kemijske analizeInstitut "Jožef Stefan"K72002Nanotehnologija & Napredni materiali38.79Sašo ŠturmSaso.Sturm@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS72502Oprema je namenjena merjenju zeta potenciala delcev v vodnih in nevodnih medijih v ombočju pH vrednosti od 1-14.*
Naprava za hitro sintranje keramike v plazmiOstala opremaCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK72011Nanotehnologija & Napredni materialiCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Sašo ŠturmSaso.Sturm@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS251962Prednost so občutno nižje temperature, kot tudi znatno nižje plesni tlak kot pri konvencionalni tehniki stiskanja in sintranja. To omogoča proizvodnjo materialov z izjemnimi lastnostmi, na primer: nanomateriali, FGM, kompozitni materiali, polprevodniški materiali za termoelektrično uporabo, bakrene in aluminijaste zlitine in intermetalni materiali, keramika visokih zmogljivosti.*
SISTEM ZA OPAZOV.VZORCEVMikroskopijaK72015Nanotehnologija & Napredni materialiSašo ŠturmSaso.Sturm@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Mikroskop na atomsko siloMikroskopijaInstitut "Jožef Stefan"K72007Nanotehnologija & Napredni materiali51.86Spomenka KobeSpomenka.Kobe@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS183609Oprema je namenjena za merjenje lokalnih lastnosti materialov, kot sta morfologija ali magnetno polje, s pomočjo sonde, ki se nahaja zelo blizu površine. Omogoča kvalitativno in kvantitativno analizo.*
Visoko. optični mikroskopMikroskopijaK72007Nanotehnologija & Napredni materialiSašo ŠturmSaso.Sturm@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Računalniško krmiljen sistem za laserski razrez keramikeLaserjiCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK52011Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Barbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS103503Oprema za analizo materialov in keramičnih struktur*
MERILNIK HISTERERNIH ZANKMerilniki, merilni sistemiK52000Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaTadej RojacTadej.Rojac@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Ročna stiskalnicaOstala opremaCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK52011Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Barbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS1800Oprema za procesiranje LTCC keramike.*
Kalibrator tlakaFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK52010Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Barbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS16933Oprema za procesiranje LTCC keramike.*
TenziometerFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK52010Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Barbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS19500Optični tenziometer omogoča meritve površinskih napetosti tekočin, medfazne napetosti in kontaktne kote tekočin na trdni podlagah. *
Plinski piknometer z nadgradnjoFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK52012Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Barbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS28212Piknometer se uporablja za določitev obsega in gostote delcev in prahu.  *
Klimatska komoraOstala opremaCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK52011Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Barbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS28342Oprema za analizo materialov in keramičnih struktur.*
Suha komoraOstala opremaCenter odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)K52011Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika60Tadej RojacTadej.Rojac@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS30957MBRAUN Glovebox delovne postaje so namenjene za delo v inertni atmosferi na nivoju raziskovalnih laboratorijev do večjihindustrijskih aplikacij. Vsaka suha komora je posebejo premljena z O2 in H2O detektorjem ter ločenim sistemom za odstanjevanje kisika in vode.*
Žaga za razrez keramikeOstala opremaCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK52010Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Barbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS36301Oprema za procesiranje LTCC keramike.*
Atritorski mlinOstala opremaCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK52012Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Barbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS42000Mlin za mletje oksidnih keramičnih prahov.*
Laboratorijska izostatska stiskalnicaOstala opremaInstitut "Jožef Stefan"K52004Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika36.4Barbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS52228.54Izostasko stiskanje, maksimalni pritisk 400 Mpa, temperatura 80oC. *
Brizgalni tiskalnik za keramične soleOstala opremaCenter odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)K52011Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika60Barbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS52307Kapljični tiskalnik je orodje za direktno oblikovanje 2D (nano)struktur iz polimernih solov ali koloidnih disperzij brez kritične stopnje odstranjevanja materiala, kot je značilno za litografske tehnike. Tekočine morajo imeti primerne reološke lastnosti, predvsem viskoznost, površinsko napetost in primeren omakalni kot na izbrani podlagi. Natančnost nanašanja je odvisna od velikosti kapelj, ki jo kontroliramo tako z lastnostmi tekočine kot z pogoji tiskanja. Debelina posameznega nanosa običajno znaša od nekaj nm do nekaj 10 nm. Večino keramičnih 2D struktur po nanosu toplotno obdelamo, pri čemer je temperatura odvisna od namena uporabe in temperaturne obstojnosti podlage.*
ReometerFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK52010Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Barbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS56653Opreme za karakterizacijo suspenzij, uporabno v industriji npr. pri oblikovanju izdelkov s sitotiskom in brizgalnim tiskanjem.*
Zeta meter in merilec velikosti delcevFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK52012Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Barbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS59745Instrument za dolocanje stabilnosti disperzij, omogoca meritve zeta potenciala na osnovi Dopplerjevega efekta*
Diferenčni dinamični kalorimeter (temperaturno območje: – 180ºC do + 700ºC)Fizikalno-kemijske analizeInstitut "Jožef Stefan"K52008Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika37.44Barbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS61000Diferenčni dinamični kalorimeter (DSC) je aparatura, s katero določamo entalpijske spremembe in temperature prehodov, ki so posledica različnih kemijskih ali fizikalnih procesov (kemijske reakcije, fazne premene,...) med segrevanjem in/ali ohlajanjem vzorcev po izbranem temperaturnem programu in v izbrani atmosferi. Metoda je primerna za analizo trdnih in tekočih vzorcev z masami od nekaj mg do nekaj 10 mg v temperaturnem območju od -180ºC do + 700ºC.*
Aparatura za termično analizoFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK52011Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Barbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS75323Oprema za karakterizacijo keramičnih suspenzij s termično analizo.*
DilatometerFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK52010Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Barbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS79624Oprema za karakterizacijo skrčka/raztezka materialov. *
Sistem za merjenje toplotne prevodnostiFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK52012Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Barbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS90000Inštrument za določanje toplotne prevodnosti, toplotne difuzivnosti in specifične toplotne kapacitivnosti trdnih snovi, tekočin, prahov, past, pene kot tudi laminatov.*
Laboratorijska naprava za naparevanje in naprševanje Leybold UNIVX 300Oprema za obdelovanje površinInstitut "Jožef Stefan"K52002Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika43.54Barbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS112852.05Naprševanje kovinskih elektrod na različne materiale. Možnost naprševanja do treh različnih kovinskih plasti v enem ciklusu.*
Peč za žganje LTCC keramike z računalniškim za krmiljenjemOstala opremaCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK52010Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Barbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS118297Peč je prirejena za žganje LTCC keramike oziroma debeloplasnih materialov in struktur.*
Sistem za in situ karakterizacijo vzorcev in TEM nosilec za več vzorcevFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK52011Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Barbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS197520Omogoča in situ AFM in električno karakterizacijo vzorcev v presevnem elektronskem mikroskopu (TEM).*
Inkjet printer za vzorčenje nanostruktur materialovFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti Vesolje, znanost in tehnologije K52011Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika8.9318023529412Barbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS75920.32Ink-jet tiskalnik omogoča neposredno vzorčenje 2D (nano) struktur iz polimernih solov alik koloidnih disperzij (črnila) brez kritičnega koraka odstranjevanja materiala, kar je značilno za litografske tehnike. Natančnost nanosa določa velikosti kapljic, ki pa je odvisna od lastnosti tekočine in od parametrov tiskalnika. Debelina nanosa je običajno od nekaj do nekaj deset nm. *
TERMALNI ANALIZATOR S KALORIMEFizikalno-kemijske analizeK51994Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaBarbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Visokoločljivi metalografski in polarizacijski optični mikroskop z zajemom slike in dodatkiMikroskopijaInstitut "Jožef Stefan"K52007Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika37.62Goran DražićGoran.Drazic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS62593.9Optični mikroskop je namenjen opazovanju in slikanju vzorcev s pomočjo vidne*
Mikroskop na atomsko silo z grelcem za celico in Ojačevalnik “lock-in”MikroskopijaCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiK52010, 2011, 2012Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Barbara MaličBarbara.Malic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS211816Mikroskop na atomsko silo (AFM) z dodanim piezoelektričnim modulom (PFM) za merjenje piezoelektričnega odziva v vertikalni in lateralni smeri.*
HR TEM mikroskopMikroskopijaCENTER ODLIČNOSTI NIZKOOGLJIČNE TEHNOLOGIJE K52013Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika400Goran DražićGoran.Drazic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS2277900Preiskovanje mikrostrukture na atomskem nivoju. Določanje kristalne strukture, kemijske sestave, načina vezave in oksidacijskih stanj. Določanje morfologije in velikosti nanodelcev, tomografija.*
NAPRASEVALNIKMikroskopijaK52003Napredni materialiSilvo DrnovšekSilvo.Drnovsek@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Aparatura za visokotlačno kromatografijo, računalnik Dell Optex 755 USFF, TP Link TL-SG1008D 10/100/1000 8-port, D-link USBFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologijiK32011Napredni materiali22.35Stojan StavberStojan.Stavber@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS37664.71HPLC sistem za visokotlačno tekočinsko kromatografijo se uporablja za analitiko posebnih organskih spojin: težko hlapnih in termolabilnih spojin.*
Paralelni reakcijski sistem s kontinuirnim sistemom spremljanja reakcij v realnem času z metodo FTIRFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologijiK32011Napredni materiali22.35Stojan StavberStojan.Stavber@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS172320Sistem se uporablja za avtomatizirane vzporedne kemijske sinteze v manjšem obsegu. To vključuje instrument za spremljanje reakcij in analizo. Sistem omogoča natančne določitev pogojev za sintezo (temperatura, pH, tlak).*
PLINSKI KROMATOGRAF P-EFizikalno-kemijske analizeK11989Nanotehnologija & Napredni materialiTomaž SkapinTomaz.Skapin@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
PILOTNA NAPRAVA (PROTOTIP)Ostala opremaK12014Nanotehnologija & Napredni materialiGašper TavčarGasper.Tavcar@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJSJe raziskovalno izobraževalni energijski poligon, ki temelji na integraciji najsodobnejših sončnih termalnih tehnologij v enovit sistem ogrevanja in hlajenja prostorov z energijo sonca ter prikazu uporabe 'sonca kot infrastrukture'. Omogoča preskušanje energetskih sklopov toplotnih moči do 60 kW ter prikaz konkretnih sistemskih rešitev z najnovejšimi tehnologijami s področja obnovljivih virov in energetske učinkovitosti.*
MONOKRISTALNI DIFRAKTOMETERFizikalno-kemijske analizeK12013Nanotehnologija & Napredni materialiEvgeny GoreshnikEvgeny.Goreshnik@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJSJe sodobna naprava za določitev kristalne strukture. Omogoča hitro zbiranje podatkov z visoko ločljivostjo in določanje struktur spojin z visoko vsebnostjo lahkih atomov. Hladilni sistem omogoča meritve pri temperaturah od 100 do 300 stopinj K.*
EMISIJSKA MERILNA POSTAJAMerilniki, merilni sistemiK12005Nanotehnologija & Napredni materialiPeter FrkalPeter.Frkal@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Rentgenski praškovni difraktometerSpektrometrijaInstitut "Jožef Stefan"K12007Nanotehnologija & Napredni materiali36.38Tomaž SkapinTomaz.Skapin@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS52000Praškovni difraktometer za delo z občutljivimi vzorci, snemanje v kapilari.*
Elementni analizator C,N,H,S,OFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti polimerni materiali in tehnologije K12011Nanotehnologija & Napredni materiali15.62Maja Ponikvar-Svetmaja.ponikvar-svet@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS61887določanje elementne sestave organskih in anorganskih vzorcev*
Reometer (Physica MCR301 Modular Compact)Fizikalno-kemijske analizeInstitut "Jožef Stefan"K12005Nanotehnologija & Napredni materiali37.63Gašper TavčarGasper.Tavcar@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS62618.4Oprema je namenjena merjenju reoloških lastnosti tekočin, suspenzij in past. Meritve je mogoče opravljati v rotacijskem in oscilacijskem načinu. Omogoča tudi merjenje reoloških lastnosti v magnetnem polju.*
FTIR spektrometerSpektrometrijaInstitut "Jožef Stefan"K12004Nanotehnologija & Napredni materiali38.6Tomaž SkapinTomaz.Skapin@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS70905.75

Raziskovalni FTIR spektrometer srednjega razreda. Območje: 30 - 10.000 cm-1; ločljivost < 0.3 cm-1. Dodatna oprema: visokotemperaturna celica, nizkotemperaturna celica, fotoakustični detektor.

Ramanski spektrometerSpektrometrijaInstitut "Jožef Stefan"K12010Nanotehnologija & Napredni materiali45.93Gašper TavčarGasper.Tavcar@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS133200Oprema je v prvi vrsti namenjena karakterizaciji in identifikaciji spojin in materialov in omogoča nedestruktivno analizo praktično brez priprave vzorca. *
Masni spektrometerSpektrometrijaInstitut "Jožef Stefan"K12012Nanotehnologija & Napredni materiali39.14Gašper TavčarGasper.Tavcar@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS144840Oprema je montirana na vakuumski sistem in je namenjena karakterizaciji in identifikaciji plinskih komponent v plazmi in analizi plinskih komponent mešanic plinov.*
Merilna oprema za izvrednotenje prototipov detektorjevDetektorjiInstitut "Jožef Stefan"F92004Napredni materiali35.42Marko MikužMarko.Mikuz@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS43886.04Modularna elektronika je vgrajena v več eksperimentalnih postavitev*
Nadgradnja identifikacije delcev v detektorju BelleDetektorjiInstitut "Jožef Stefan"F92008Napredni materiali112.61Marko MikužMarko.Mikuz@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS700000Oprema vgrajena v detektor Belle v KEK, Tsukuba, Japonska*
INFORTREND ESDS FC TO SASDetektorjiF92017Napredni materialiDejan LesjakDejan.Lesjak@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
STREŽNIK INFORTREND ESDS FCRačunalništvoF92014Napredni materialiBorut Paul KerševanBorut.Kersevan@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
NAPAJALNIK CAMACDetektorjiF91986Napredni materialiMarko StaričMarko.Staric@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Nadradnja TIER-1 demonstratorjaDetektorjiInstitut "Jožef Stefan"F92005Napredni materiali35.41Marko MikužMarko.Mikuz@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS43805.2Oprema vključena v slovensko Grid vozlišče SiGNET*
Modularna elektronikaDetektorjiInstitut "Jožef Stefan"F92002Napredni materiali37.7Marko MikužMarko.Mikuz@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS63209.41Modularna elektronika je vgrajena v več eksperimentalnih postavitev*
TIER-2 demonstratorDetektorjiInstitut "Jožef Stefan"F92003Napredni materiali40.1Marko MikužMarko.Mikuz@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS83616.47Oprema vključena v slovensko Grid vozlišče SiGNET*
Nadgradnja grid vozlišča SiGNETDetektorjiInstitut "Jožef Stefan"F92009Napredni materiali46.71Andrej FilipčičAndrej.Filipcic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS139812Oprema je namenjena izvajanju računskih nalog in shranjevanju podatkov pri mednarodnih eksperimentih ATLAS, Pierre Auger in Belle. Po dogovoru je na voljo tudi slovenskim raziskovalnim in akademskim ustanovam.*
TIER-2 grid vozliščeDetektorjiInstitut "Jožef Stefan"F92007Napredni materiali46.73Marko MikužMarko.Mikuz@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS140000Oprema vključena v slovensko Grid vozlišče SiGNET*
NADRGRADNJA DISTRIBUIRANEGA RAČUNSKEGA VOZLIŠČA SIGNET ZA HTCDetektorjiInstitut "Jožef Stefan"F92016Napredni materiali46.71Dejan LesjakDejan.Lesjak@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS250000Oprema je namenjena izvajanju računskih nalog in shranjevanju podatkov pri mednarodnih eksperimentih ATLAS, Pierre Auger in Belle. Po dogovoru je na voljo tudi slovenskim raziskovalnim in akademskim ustanovam.*
Sledilni sistem za SuperBelleDetektorjiInstitut "Jožef Stefan"F92011Napredni materiali125.91149294118Peter KrižanPeter.Krizan@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS905347.69Oprema je namenjena meritvi sledi nabitih delcev v magnetnem spektometru Belle. *
Avtomatski ožičevalnik elektronskih vezij z mikroskopomMikroskopijaInstitut "Jožef Stefan"F92010Napredni materiali43.64Vladimir CindroVladimir.Cindro@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS113760Povezovanje elektronskih vezij z Al žico debeline 20-30 mikronov, presledki večji od 80 mikronov *
CITALEC SLIKOVNIH PLOSCOstala opremaF81998Napredni materialiBojan ŽefranBojan.Zefran@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
NADGRADNJA GRUČE RAČUNALNIŠKI SISTEM HPCRačunalništvoInstitut "Jožef Stefan"F82015Napredni materiali0.05 Eur/cpu hourLuka SnojLuka.Snoj@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS90616.23Oprema je namenjena numerično intenzivnim računom. Oprema vsebuje računska vozlišča, vsako ima 2 procesorja, vsak s 14 jedri in 256GB spomina. *
SISTEM ZA GAMA SPEKTROMETRIJOSpektrometrijaF82017Napredni materialiVladimir RadulovićVladimir.Radulovic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
MIKROSKOP AXIOTRON 2 AFMikroskopijaF81995Napredni materialiBojan ŽefranBojan.Zefran@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
REG. FEM.SUN.LASERSKI IZVORLaserjiF72013Nanotehnologija & Napredni materialiTomaž MerteljTomaz.Mertelj@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJSZa časovno ločljivo optično spektroskopijo. Za dani sistem je značilen kompromis med energijo v sunku in šumom, ki je dosežen z repeticijo nekaj 100kHz. To omogoča energije sunkov v področju nekaj uJ pri valovni dolžini v okolici 800 nm in obenem boljšo stabilnost od izvorov z nižjo repeticijo. Sistem omogoča tudi dostop do oscilatorskih sunkov z repeticijo 80 MHz in energijo v področju nJ pri enaki valovni dolžini.*
LASER V6 VERDILaserjiF72003Nanotehnologija & Napredni materialiDragan MihailovićDragan.Mihailovic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
LASER VERDI 10LaserjiF72002Nanotehnologija & Napredni materialiTomaž MerteljTomaz.Mertelj@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
LASER MIRA WCS 900LaserjiF71998Nanotehnologija & Napredni materialiTomaž MerteljTomaz.Mertelj@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
LASERSKI OJACEVALNIKLaserjiF71997Nanotehnologija & Napredni materialiDragan MihailovićDragan.Mihailovic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
ProtoLaser LDILaserjiCenter odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)F72011Nanotehnologija & Napredni materiali60Damjan SvetinDamjan.Svetin@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS192203Platforma na osnovi kontinualnega UV laserja, 2D akusto-optičnih deflektorjev in visoko-natančne xy mize v prvi fazi omogoča neposredno optično nanolitografijo z ločljivostjo 1µm na področju 10x10cm. Zasnova platforme omogoča relativno preprosto nadgradnjo na ONL z uporabo imerzijskega objektiva in s tem povečanje ločljivosti na 200 nm. Z uporabo dveh laserskih virov različnih valovnih dolžin in večjo adaptacijo platforme je moč doseči ločljivost postopka na rangu 50 nm.*
Dopolnilni elementi za razširitev titan-safirnega laserskega sistemaLaserjiCenter odličnosti polimerni materiali in tehnologije F72012Nanotehnologija & Napredni materiali3Luka CmokLuka.Cmok@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS202490.82*
Sistem za lasersko mikrostrukturiranje in analizo tankoplastnih strukturLaserjiInstitut "Jožef Stefan"F72011Nanotehnologija & Napredni materiali45.066192941176Dragan Mihailovićdragan.mihailovic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS216802.64Hitra prototipna izdelava natančnih mikrostrukur s pomočjo direktne laserske fotolitografije. Karakterizacija tankoplastnih struktur. *
RTA termično procesiranjeFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)F72010Nanotehnologija & Napredni materiali60Dragan MihailovićDragan.Mihailovic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS47499grelni sistem za hitro termalno obdelavo vzorcev z širokim temperaturnim razponom. Peč lahko greje od sobne temperature do 1200C z hitrostjo gretja 50K na sekundo. Je majhna namizna peč za gretje vzorcev, ki niso večji od 20 x 20mm. Sestavljena je iz kvarčne cevi katero lahko vakuumiramo ali jo napolnimo z želenim plinom. Trenutno imamo na voljo termično obdelavo v štirih različnih atmosferah. Lahko uporabimo kompresiran zrak za potrebe oksidacije ali pa jo napolnimo z inertnim plinom kot je dušik ali argon. Za potrebe redukcije je na voljo tudi nitrostar (90%N2,10%H2). Vakuum ki ga lahko dosežemo na tem sistemu je 10-5mbara. Peč programiramo preko ugrajenega kontrolerja, za bolj zahtevne temperaturne režime pa preko računalnika. Na controlerju lahko spremljamo trenutno temperaturo na vzorcu in programirano temperaturo. V peč lahko sprogramiramo do 32 različnih temperaturnih korakov v enem programu.*
Sistem za hidrotermalno analizo nanomaterialovFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)F72010Nanotehnologija50Aleš MrzelAles.Mrzel@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS79454sistem za pripravo različnih prekurzorskih materialov za izvedbo hidrotermalne sinteze nekaterih enadimenzionalnih materialov in procesiranje različnih produktov same sinteze. *
NADGRADNJA MBE SISTEMAFizikalno-kemijske analizeInstitut "Jožef Stefan"F72016Nanotehnologija & Napredni materiali10.8Dragan MihailovićDragan.Mihailovic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS91820.86Namenjen je sintezi kristalnih tankih plasti dihalkogenidov prehodnih kovin. Velikost substratov je omejena na 9 mm x 9 mm, temperatura rasti doseže 800 °C. Na voljo so rasti s halkogenima elementoma S in Se ter prehodnimi kovinami Ta, Mo, Nb, W.*
Supervodni magnet z optičnim kriostatomMagnetiCenter odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)F72012Nanotehnologija & Napredni materiali60Tomaž MerteljTomaz.Mertelj@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS133375Superprevodni magnet omogoča optične meritve v prečnem in vzdolžnem magnetnem polju v magnetnem polju do 7 T v območju temperature 1.5-300K.*
Femtosekundni sistem za mešanje optičnih frekvencFizikalno-kemijske analizeInstitut "Jožef Stefan"F72002Nanotehnologija & Napredni materiali46.92Dragan MihailovićDragan.Mihailovic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS141575.19Osnovna sestavna komponenta sistema za mešanje optičnih frekvenc.*
Sistem za optično femtosekundno spektroskopijo z ultravisoko časovno ločljivostjoSpektrometrijaInstitut "Jožef Stefan"F72010Nanotehnologija & Napredni materiali50.02Tomaž MerteljTomaz.Mertelj@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS167988Časovno ločljiva optična spektroskopija kondenzirane snovi.*
Sistem za ekscitacijsko spektroskopijo neravnovesnih pojavovSpektrometrijaInstitut "Jožef Stefan"F72008Nanotehnologija & Napredni materiali67.91Dragan Mihailović Dragan.Mihailovic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS320000Razširitev območja dosegljivih experimentalnih parametrov pri ekscitacijski spektroskopiji neravnovesnih pojavov in uvedba novih metod za analizo neravnovesnih sprememb elektronskih stanj in strukture z izboljšano površinsko občutljivostjo.*
Femtosekundni sistem za mešanje optičnih frekvenc s priboromFizikalno-kemijske analizeInstitut "Jožef Stefan"F72004Nanotehnologija & Napredni materiali44.61Dragan Mihailovićdragan.mihailovic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS121964.78Pikosekundna spektroskopija v IR področju z nastavljivo valovno dolžino svetlobe, posebej še nelinearno resonančno optično mešanje frekvenc na površinah.*
ElipsometerFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)F72011Nanotehnologija & Napredni materiali60Dragan Mihailovićdragan.mihailovic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS225096Optična elipsometrija je nedestruktivna tehnika, ki se uporablja za raziskave površin, mejnih plasti in tankih filmov. Osnovni princip elipsometrije je merjenje sprememb polarizacije svetlobnega žarka, ki se odbije od vzorca. Odbito svetlobo zajemamo s pomočjo mikroskopskih objektivov, kar v kombinaciji s prostorsko razločeno detekcijo signala (slikanje) zmanjša velikost preiskovane površine na območje mikrometrov. Objektivi imajo ekstremno dolgo delovno razdaljo, kar omogoča analizo površin makroskopskih objektov. Dobimo povečano sliko vzorca v odbiti svetlobi po prehodu skozi set polarizacijskih optičnih elementov. Sliko zajemamo s pomočjo CCD kamere z nastavljivimi časi zaklopa in ojačanja intenzitete. Lateralna ločljivost sistema je 1 μm, kar omogoča izvajanje elipsometričnih meritev na mikrostrukturiranih  vzorcih. Možna je sprotna analiza večih izbranih območij hkrati.*
Tipalni mikroskop in risalnik s spremljajočo opremoMikroskopijaInstitut "Jožef Stefan"F72004Nanotehnologija & Napredni materiali47.95Dragan MihailovićDragan.Mihailovic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS150337.82Slikanje topografije površine in manipulacije nanostruktur ter sistem za risanje vezij s pomočjo elektronske litografije.*
ND: YAG LASER VELIKE MOČILaserjiF52016FotonikaPeter Jeglič Peter.Jeglic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Visokoenergetski sunkovni pikosekundni laserLaserjiCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiF52012FotonikaCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Igor MuševičIgor.Musevic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS81600Za raziskave dinamike na področju mikrolaserjev, optičnih mikroresonatorjev in fotonskih mikroelementov na osnovi mehke snovi.*
Laserska pincetaLaserjiInstitut "Jožef Stefan"F52007Fotonika46.89Igor MuševičIgor.Musevic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS141378Sistem omogočija manipulacijo mikronskih in submikronskih delcev v mehki snovi, npr. koloidov trdnih delcev v tekočih kristalih*
Nadgradnja dvobarvne laserske pinceteLaserjiInstitut "Jožef Stefan"F52010Fotonika47.9Igor MuševičIgor.Musevic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS149933Uporaba za optično manipuliranje koloidnih delcev.*
Sistem za dvofotonsko polimerizacijo v 3DOprema za obdelovanje površinCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiF52011Napredni materialiCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Igor MuševičIgor.Musevic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS285692Namizni sistem za lasersko litografijo, ki omogoča visoke zahteve tridimenzionalnih fotonskih kristalnih struktur (ali npr. za ustvarjanje tridimenzionalnih odrov za biologijo, vezja v mikro in nanofluidiki). *
PPMS MERILNI SISTEMMerilniki, merilni sistemiF52009Napredni materialiJanez DolinšekJani.Dolinsek@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
MIKROVALOVNI DETEKTOR IN-SBDetektorjiF52012Napredni materialiAndrej ZorkoAndrej.Zorko@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
SPEKTROMETRSKI SISTEM NMR SERVSpektrometrijaF52012Napredni materialiIgor SeršaIgor.Sersa@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
SUPERPREVODNI NMR MAGNETSpektrometrijaF52012Napredni materialiIgor MuševičIgor.Musevic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
NMR ANALIZATOR MATERIALOVSpektrometrijaF52011Napredni materialiJanez DolinšekJani.Dolinsek@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
NMR MAGNETSpektrometrijaF52005Napredni materialiJanez DolinšekJani.Dolinsek@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
SISTEM ZA ZAJEM SIGNALA ZA NMRSpektrometrijaF52001Napredni materialiIgor MuševičIgor.Musevic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
INDUSTRIJSKI NMR ANALIZATORSpektrometrijaF51996Napredni materialiSilvano MendizzaSilvano.Mendizza@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
SISTEM PNDS PREMIER IIFizikalno-kemijske analizeF52015Napredni materialiZdravko KutnjakZdravko.Kutnjak@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
PULZNI EPR SPEKTROMETERSpektrometrijaF51998Napredni materialiMatej PregeljMatej.Pregelj@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
NMR TOMOGRAFSKI SISTEM S PRIBOSpektrometrijaF51987Napredni materialiIgor MuševičIgor.Musevic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
LOČEVALNIK DELCEV V AEROSOLUFizikalno-kemijske analizeF52011NanotehnologijaMaja RemškarMaja.Remskar@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
INSTRUMENT ZA DINAMIČNOFizikalno-kemijske analizeF52011NanotehnologijaMaja RemškarMaja.Remskar@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Spektrograf z detektorjemSpektrometrijaCenter odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)F52013Napredni materiali60Igor MuševičIgor.Musevic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS49761Optični spektrograf s kamero za bližnje infrardeče področje od 800 nm do 1700 nm. Spektrograf s kamero je vgrajen v obstoječi optični spektrografski sistem, ki je zgrajen okoli laserske pincete in trenutno omogoča spektralno analizo izsevane svetlobe v vidnem območju od 400 nm do 950 nm. Z vgradnjo dodatnega optičnega spektrografa in kamere za bližnje IR področje se poveča spektralni obseg merilnega instrumenta za istočasni zajem in analizo spektra izsevane svetlobe v področju od 400 nm do 1700 nm. *
Difuzijska sonda za NMR spektrometer in Li modul (nadgradnja obstoječega sistema na IJS-F5)SpektrometrijaCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiF52010Napredni materialiCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Boštjan ZalarBostjan.Zalar@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS52892Instrument za merjenje fizikalnih lastnosti.*
Visokofrekvenčni mikrovalovni izvor za EPR spektroskopijo v 100 in več GHz območjuSpektrometrijaCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiF52011Napredni materialiCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Denis ArčonDenis.Arcon@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS61585Pri zelo visokih frekvencah (npr. 360GHz) je zaradi majhnega vira izhodne moči potreben visokofrekvečni mikrovalovni izvor. *
ATR-FTIR spektrometerSpektrometrijaInstitut "Jožef Stefan"F52009Napredni materiali44.15Polona UmekPolona.Umek@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS118035

Spektrometer PerkinElmer “Spectrum 400 Series” omogoča snemanje v srednjem IR območju (MID: 4000-650 cm-1) in daljnem IR območju (FAR: 700-300 cm-1) v transmisiji (KBr tablete) ali atenuirani totalni refleksiji (ATR).
Dodatna oprema:
• diamantni nastavek za ATR (atenuirana totalna refleksija) z diamantnim kristalom omogoča snemanje spektrov med 80-200 °C
• nastavek za difuzno refleksijo (DRIFT) omogoča snemanje spektrov težavnih praškastih vzorcev s tehniko suspenzije v KBr ter trdnih vzorcev z abrazijsko tehniko.

49240*
Magnetno-resonančni relaksometer (s hitrim cikliranjem magnetnega polja)SpektrometrijaInstitut "Jožef Stefan"F52002Napredni materiali45.46Tomaž ApihTomaz.Apih@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS129196.9Meritve molekularne dinamike snovi*
SUPER PREVODNI MAGNET S KRIOSTMagnetiF51996Napredni materialiJanez DolinšekJani.Dolinsek@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
SUPERPREVODNI MAGNETMagnetiF51993Napredni materialiJanez DolinšekJani.Dolinsek@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Sistem za fluorescenčno mikrospektroskopijoSpektrometrijaInstitut "Jožef Stefan"F52007Industrijska biotehnologija & Fotonika47.58Janez ŠtrancarJanez.Strancar@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS147200Oprema je namenjena raziskovanju celic in interakcij v bioloških sistemih s pomočjo fluorescenčne konfokalne mikrospektroskopije in omogoča zajem fluorescenčnega emisijskega spektra (spektralna ločljivost nekaj nm) znotraj posameznih slikovnih elementov 3D slike ločljivosti 180 nm x 180 nm x 450 nm s časovno ločljivostjo 10 ms. Za raziskave ni potrebna fiksacija biološkega materiala, ker sistem omogoča tudi in-vitro poskuse na vitalnih celičnih linijah direktno v gojilnih posodah z ultra-tankim dnom.*
Visokoločljivi 500 MHz spectrometer na magnetno resonanco za trdno snovSpektrometrijaInstitut "Jožef Stefan"F52008Napredni materiali108.81Boštjan ZalarBostjan.Zalar@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS667668Digitalni visokoločljivi spektrometer omogoča eno- in večddimenzionalne magnetoresonančne meritve lokalnih statičnih in dinamičnih lastnosti na molekularni in atomski skali v mehkih in trdnih snoveh, merjenje difuzijske konstante ter mikroslikanje z magnetno resonanco.*
TOMOGRAFSKI MAGNET Z GRADIENTNMagnetiF51986Napredni materialiIgor MuševičIgor.Musevic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
SUPRAPREVODNI MAGNETMagnetiF51974Napredni materialiJanez DolinšekJani.Dolinsek@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
RefraktometerMerilniki, merilni sistemiCenter odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)F52013Napredni materiali50Igor MuševičIgor.Musevic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS21170Z zelo preprostim postopkom refraktometer neposredno kaže izmerjeno vrednost (v refrakcijski indeks ali Brix (%), selektivno) v številki, skupaj s temperaturo na zaslonu. Ta refraktometer omogoča enostavne meritve. *
Vzorčevalnik delcev na vodni osnoviFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiF52010Nanotehnologija & Napredni materialiCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Maja RemškarMaja.Remskar@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS28602Števec deluje na osnovi vodnega oplaščevanja. Detektira delce od 5nm do 3mikrometre. Je prenosljiv, omogoča serijsko povezljivost z osebnim računalnikom.*
Dodatki za optično detekcijo elektronske in jedrske magnetne resonanceFizikalno-kemijske analizeInstitut "Jožef Stefan"F52002Fotonika35.1Denis ArčonDenis.Arcon@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS41105.3Določitev fizikalno-kemijskih lastnosti trdnih in tekočih snovi*
SPEKTROMETER EPR IN PRIBORSpektrometrijaF51991Nanotehnologija & Napredni materialiJanez ŠtrancarJanez.Strancar@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Obnovitev 9,6 GHz spektrometra za elektronsko paramagnetno resonancoSpektrometrijaInstitut "Jožef Stefan"F52005Nanotehnologija & Napredni materiali55.44Igor MuševičIgor.Musevic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS214015.54Določitev fizikalno-kemijskih lastnosti trdnih in tekočih snovi*
Sistem za visokotemperaturno dielektrično karakterizacijoFizikalno-kemijske analizeInstitut "Jožef Stefan"F52007Nanotehnologija & Napredni materiali37.92Vid BobnarVid.Bobnar@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS65087Oprema je namenjena za meritve dielektričnih lastnosti snovi pri visokih temperaturah, do 1000K*
NanoreaktorOstala opremaInstitut "Jožef Stefan"F52002Nanotehnologija39.03Polona UmekPolona.Umek@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS74577.23

Kemijske reakcije na molekularnem nivoju

38884
Sistem za manipulacijo mikrobnih površinOprema za biološke in biokemijske raziskaveInstitut "Jožef Stefan"F52007Nanotehnologija & Industrijska biotehnologija40.82Janez ŠtrancarJanez.Strancar@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS89750Oprema je namenjena gojenju nenevarnih mikrobov za študij interakcije z nanomateriali s pomočjo magnetnih resonanc in mikrospektroskopij; še posebej za tiste namene, kjer mora biti kraj gojenja v neposredni bližini navedene eksperimentalne opreme. Oprema je specializirana za gojenje bakterij v tekočih gojiščih in zadošča osnovnim varnostnim standardom.*
Optična pincetaFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiF52010FotonikaCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Igor MuševičIgor.Musevic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS110563Sistem infrardeča optična pinceta se uporablja za manipulacijo mikrometrskih struktur pod invertnim optičnim mikroskopom.*
Računalniška gručaRačunalništvoCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiF52010, 2012Mikro- in nano-elektronikaCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Slobodan ŽumerSlobodan.Zumer@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS163616Računalniška gruča se uporablja na področju zahtevnih računalniških simulacij osnovnih problemov iz statične fizike, fizike trdnih in mehkih snovi, modeliranju kompozitnih snovi in elektrooptičnih elementov.*
Optična pinceta z dodatki (nadgradnja obstoječega sistema na IJS-F5)Fizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiF52010, 2011FotonikaCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Janez ŠtrancarJanez.Strancar@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS182471Sistem za manipulacijo in karakterizacijo interakcij med celicami in materiali.*
MAGNETOMETER SQUIDFizikalno-kemijske analizeInstitut "Jožef Stefan"F52016Nanotehnologija & Napredni materiali120Janez DolinšekJani.Dolinsek@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS639376 Osnova magnetometra je SQUID detektor, ki omogoča delovanje magnetometra v klasičnem načinu in kot VSM (»vibrating sample magnetometer«). Možno je meriti istosmerno (dc) magnetizacijo, izmenično (ac) magnetizacijo, magnetizacijske M(H) krivulje ter časovni razpad termoremanentne magnetizacije na dolgih časovnih skalah. *
Analizator ionov v tekočih kristalihFizikalno-kemijske analizeInstitut "Jožef Stefan"F52002Nanotehnologija & Napredni materiali36.5Igor MuševičIgor.Musevic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS53056

Določitev fizikalno-kemijskih lastnosti tekočih kristalov

39555
Sistem za ultra čiščenje površin (nadgradnja obstoječega sistema na IJS-F5)Oprema za obdelovanje površinCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiF52011Nanotehnologija & Napredni materialiCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Igor MuševičIgor.Musevic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS107389Nadgradnja sistema za plazemsko čiščenje površin v argonovi (Ar) atmosferi. *
Sistem za čiščenje substratovOprema za obdelovanje površinInstitut "Jožef Stefan"F52007Nanotehnologija & Napredni materiali43.79Igor MuševičIgor.Musevic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS115000Oprema omogoča pripravo ultračistih površin za nanos tankih prevlek mehkih in trdnih snovi, predvsem tekočih kristalov.*
MIKROSKOP DVOFOTONSKI 3D STEEDMikroskopijaF52017Nanotehnologija & Napredni materialiIgor MuševičIgor.Musevic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Modul za mikroskopijo flim (nadgrajen sistem za konfokalno fluorescenčno mikrospektroskopijo)MikroskopijaCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiF52012Nanotehnologija & Napredni materialiCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Janez ŠtrancarJanez.Strancar@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS65520Nadgrajen sistem CCD kamere v pikosekundnem (ps) rangu. PicoStar HR: <300 ps @ <110 MHz, 18 mm ojačanje slike.*
Vrstični tunelski mikroskopMikroskopijaInstitut "Jožef Stefan"F52005Nanotehnologija & Napredni materiali55.01Maja RemškarMaja.Remskar@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS210353.14Fizika površin*
Vrstični mikroskop v bližnjem optičnem poljuMikroskopijaCenter odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnostiF52011, 2012Nanotehnologija & Napredni materialiCena za uporabo raziskovalne opreme je skladna s priporočilom o zaračunavanju opreme.Maja RemškarMaja.Remskar@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS218946Trije načini delovanja znotraj istega instrumenta: SNOM, AFM in konfokalni Raman.*
Jedrsko magnetno resonančni vrstični tunelski mikroskop – NMR STMMikroskopijaCenter odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)F52013Nanotehnologija & Napredni materiali60Erik ZupaničErik.Zupanic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS263192nadgradnja obstoječega ultra-visoko vakuumskega LT-STM sistema z NMR opremo z namenom razvoja nove tehnike za manipulacijo in zaznavanje posameznih spinov. Magnetno polje bo ustvarjeno s kombinacijo trajnih magnetov in superprevodnih tuljav, modulacija v tunelskem toku pa se bo zaznavala s pomočjo visokofrekvenčnih ojačevalcev in spektralnih analizatorjev. Glava mikroskopa bo ustrezno modificirana in del detekcijske elektronike bo vgrajen v sam ultra visoko vakuumski (UHV) sistem. Sistem bo nadgrajen z nizko-temperaturno efuzijsko celico za naparjevanje organskih molekul. *
Nizkotemperaturni vrstični tunelski mikroskop – LT STMMikroskopijaCenter odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)F52012Nanotehnologija & Napredni materiali60Erik ZupaničErik.Zupanic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS583214Oprema omogoča (poleg priprave vzorcev) deloz nizkotemperaturnim STM-om pri temperaturi pod 1K, kar omogoča izvrstno energijsko ločljivost.*
MIKROSKOP AFM Z DVEMA MONITORJMikroskopijaF51994Nanotehnologija & Napredni materialiIgor MuševičIgor.Musevic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
TUNELSKI MIKROSKOP, SCANER,UVVMikroskopijaF51990Nanotehnologija & Napredni materialiErik ZupaničErik.Zupanic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Naprava za funkcionalizacijo površin novih materialovOprema za obdelovanje površinInstitut "Jožef Stefan"F42007Nanotehnologija & Napredni materiali47.35Janez KovačJanez.Kovac@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS145260Naprava omogoča pripravo tankih večkomponentnih anorganskih in organskih plasti z naparevanjem v vakuumu z namenom študija osnovnih procesov med rastjo tankih plasti in interakcijo s podlago, kakor tudi funkcionalizacijo površin. Omogočena je toplotna obdelava tankih plasti, obdelava z ionskimi curki in funkcionalizacija površin s plazmo. Naprava je direktno povezana z XPS spektrometrom za karakterizacijo obdelanih površin in nanesenih tankih plasti brez izpostave zračni atmosferi.*
XPS spektrometerSpektrometrijaInstitut "Jožef Stefan"F42005Nanotehnologija & Napredni materiali76.73Janez KovačJanez.Kovac@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS395000Preiskava površin in tankih plasti z rentgensko fotoelektronsko spektroskopijo - XPS (ESCA). Spektrometer XPS omogoča kvantitativno analizo sestave površine in določitev valenčnega stanja, oziroma tipa kemijske vezi v plasti debeline 3 - 5 nm. Vzorci so lahko kovinski, oksidni, kompozitni, praškasti, keramični, polimerni... Možna je preiskava porazdelitve elementov po globini vzorca v smeri od površine proti notranjosti do globine okoli 200 nm.*
Masni spektrometer sekundarnih ionov SIMSSpektrometrijaInstitut "Jožef Stefan"F42011Nanotehnologija & Napredni materiali100.60647058824Janez KovačJanez.Kovac@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS690000TOF–SIMS spektrometer na osnovi masne spektroskopije molekul s površine omogoča precizno analizo elemntne sestave in molekularne strukture površin, tankih plasti in faznih mej organskih in anorganskih trdih materialov, kot so: polimeri, biomateriali, polprevodniki, prevleke, barve, kovine, keramika, steklo, zdravila... Masna ločljivost instrumenta je okoli 10.000, lateralno ločljivostjo je okoli 100 nm in analizna globina 2-3 monoplasti.*
Mikroskop na atomsko silo AFMMikroskopijaInstitut "Jožef Stefan"F42006Nanotehnologija & Napredni materiali35.61Janez KovačJanez.Kovac@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS45450AFM mikroskop je namenjen preiskavi topografije površine trdnih vzorcev z visoko ločljivostjo. Možna je preiskava področij velikosti do 50 mikronov z natančnostjo 0,1 nm. Možna je analiza hrapavosti, porazdelitev magnetnega in električnega polja, litografija in meritev interakcijskih sil med iglo in podlago.*
NAPRAVA ZA NANOS TRDIH PREVLEKOprema za obdelovanje površinF32008Napredni materialiPeter PanjanPeter.Panjan@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
PULZNI NAPAJALNIKOprema za obdelovanje površinF32007Napredni materialiPeter PanjanPeter.Panjan@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Magnetronska izvira in napajalniki za vgradnjo v napravo za nanašanje niozkotemperaturnih prevlekOprema za obdelovanje površinInstitut "Jožef Stefan"F32007Napredni materiali36.43Peter PanjanPeter.Panjan@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS52450Nanos trdih PVD prevlek pri temperaturi pod 200 °C z pulznim magnetronskim naprševanjem.*
Naprava za merjenje oprijemljivosti prevlekOprema za obdelovanje površinCenter odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)F32011Napredni materiali60Peter PanjanPeter.Panjan@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS78358Merilnik razenja se uporablja za ovrednotenje adhezije (oprijemljivosti) tankih plasti. Z diamantno konico razimo po površini vzorca z vnaprej določeno obremenitvijo (ali naraščajočo obrementivijo). Med meritvijo se beležijo naslednji parametri: sila razenja, koeficient razenja, trenutna globina razenja in akustična emisija. Po končanem postopku razenja izvedemo še naknadno analizo, ki vključuje: trajna globina raze, zajem optične slike celotne raze in vizualna določitev kritičnih obremenitev. Konfiguracija opreme je še posebej primerna za analizo nanoplastnih in nanokompozitnih trdih prevlek.*
Naprava za nanos PVD prevlekOprema za obdelovanje površinInstitut "Jožef Stefan"F32002Napredni materiali64.52Peter PanjanPeter.Panjan@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS291252.25Nanos trdih PVD prevlek za zaščito orodij in strojnih delov*
MERILNIK ADHEZIJEMerilniki, merilni sistemiF31995Napredni materialiPeter PanjanPeter.Panjan@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Merilnik mikrotrdoteMerilniki, merilni sistemiInstitut "Jožef Stefan"F32004Napredni materiali37.61Peter PanjanPeter.Panjan@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS62455.37Merjenje mikrotrdote in modula indentacije z metodo odtiskovanja z diamantno konico. Obtežitev konice je od 40 mg do 100 g.*
NAPRAVA ZA REAKTIVNO IONSKI PROprema za obdelovanje površinF31985Napredni materialiDamjan MateličDamjan.Matelic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
KOMORA VAKUMSKAOprema za obdelovanje površinF31976Napredni materialiPeter PanjanPeter.Panjan@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Posodobitev profilometraOprema za obdelovanje površinInstitut "Jožef Stefan"F32007Napredni materiali36.43Peter PanjanPeter.Panjan@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS52406Analiza topografije površine podlag pred in po nanosu prevlek. Merjenje debeline tankih plasti.*
Naprava za merjenje triboloških lastnosti prevlekFizikalno-kemijske analizeCenter odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)F32011Napredni materiali60Peter PanjanPeter.Panjan@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS87358Tribometer se uporablja za ovrednotenje trenja in obrabe. V osnovni konfiguraciji gre za standardni sistem »pin-on-disk« (konica na disku), kjer je disk vzorec, konica pa standardna kroglica. Med meritvijo se beleži koeficient trenja kot funkcija časa. Po končani meritvi izmerimo presek preko nastale raze s profilometrom (ni del te opreme). Z uporabo teh podatkov izračunamo stopnjo obrabe. Izvajamo lahko tudi zahtevnejše analize obrabe z ostalimi tehnikami (optična mikroskopija, SEM, EDS itd.). Konfiguracija tribometra je bistvena za karakterizacijo triboloških lastnosti trdih prevlek, s posebnim poudarkom na tistih z nizko obrabo, kot so nanostrutkurne trde prevleke.*
VISOKOTEMPERATURNI TRIBOMETERFizikalno-kemijske analizeInstitut "Jožef Stefan"F32016Napredni materiali12.06Miha ČekadaMiha.Cekada@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS102550.8Instrument omogoča meritev koeficienta trenja pri visokih temperaturah (do 1000 °C). Geometrijske zahteve za vzorce so ozko zastavljene, za detajle se obrnite na kontaktni naslov.*
DIGITALNI MIKROSKOP SMARTZOOMMikroskopijaInstitut "Jožef Stefan"F32016Napredni materiali6.77Miha ČekadaMiha.Cekada@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS57560.88Namenjen je opazovanju in slikanju velikih vzorcev kompliciranih geometrij pri srednje veliki povečavi (35x-350x). Največja višina vzorca je 120 mm, največja masa pa 4 kg.*
NAPRASEVALNIK SPUTRONMikroskopijaF31978Napredni materialiPeter PanjanPeter.Panjan@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
VBRIZGALNI SISTEM ALFA DELCEVOstala opremaF22000FotonikaPrimož PeliconPrimoz.Pelicon@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
TL ANALIZATOR Z MIKRO PROCESORDetektorjiF21985FotonikaSandi GobecSandi.Gobec@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
ŠTEVEC QUANTULUS 1220-003DetektorjiF22008FotonikaJasmina Kožar LogarJasmina.Logar@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJStekočinskoscintilacijski števec*
GERMANIJEV POLPREVODNISKI DETEDetektorjiF21999FotonikaBranko VodenikBranko.Vodenik@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
DETEKTOR LB 1231DetektorjiF22005FotonikaMatej LipoglavšekMatej.Lipoglavsek@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
DETEKTORDetektorjiF21989FotonikaBranko VodenikBranko.Vodenik@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
DELOVNA POSTAJA ALPHA 3000 (računalniška oprema)RačunalništvoF21994FotonikaBranko VodenikBranko.Vodenik@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Sistemi EXAFS OriginPro v 8.1 softwareSpektrometrijaCENTER ODLIČNOSTI NIZKOOGLJIČNE TEHNOLOGIJE F22011FotonikaIztok ArčonIztok.Arcon@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS16991.11To je software za analizo spektrov EXAFS na osebnem racunalniku in ni prenosljiv. *
Partially depleted PIPS detector (Sistem za EXAFS – Rentgenske absorpcijske komore in celice s kontrolerji)SpektrometrijaCENTER ODLIČNOSTI NIZKOOGLJIČNE TEHNOLOGIJE F22010FotonikaIztok ArčonIztok.Arcon@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS6732Fluorescenčne in transmisijske meritve rentgenskih absorpcijskih spektrov s sinhrotronsko svetlobo pri sinhrotrnskih laboratorijih za strukturno analizo materialov v času odobrenih merilnih časov pri teh sinhrotronih (ESRF, ELETTRA)*
Ionski izvor velike svetlostiDetektorjiInstitut "Jožef Stefan"F22012Fotonika88.6Primož PeliconPrimoz.Pelicon@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS567120Oprema je namenjena tvorbi visokoenergijskega fokusiranega protonskega žarka za določanje elementnih porazdelitev v bioloških in geoloških vzorcih in za mikroobdelavo.*
Clover detektorDetektorjiInstitut "Jožef Stefan"F22005Fotonika40.76Primož Peliconprimoz.pelicon@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS89284.57Detektor za žarke gama, sestavljen iz štirih koaksialnih germanijevih kristalov tipa N, rezkanih v končno obliko in sestavljenih v strukturo, ki spominja na štiriperesno deteljico*
AXAS-M sistem za flouroscenčne meritve absorpcijskih spektrov (EXAFS)SpektrometrijaCENTER ODLIČNOSTI NIZKOOGLJIČNE TEHNOLOGIJE F22010FotonikaIztok ArčonIztok.Arcon@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS14624.4Fluorescenčne meritve rentgenskih absorpcijskih spektrov s sinhrotronsko svetlobo pri sinhrotrnskih laboratorijih v času odobrenih merilnih časov*
Detekcijski sistem s hlajeno CCD-kameroDetektorjiInstitut "Jožef Stefan"F22001Fotonika37.95Primož PeliconPrimoz.Pelicon@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS65391.41Termoelektrično hlajen CCD detektor je sestavni del visokoločljivega spektrometra rentgenskih žarkov. Omogoča pozicijsko občutljivo detekcijo rentgenskih fotonov v energijskem področju 1 - 10 keV. *
oprema za intenzivno računanjeRačunalništvoCenter odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)F1Mikro- in nano-elektronika60Rok ŽitkoRok.Zitko@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS144236Prostor za izvajanje intenzivnega računanja (RC), za katerega je potrebno zagotoviti ustrezne okoljske parametre s centralnim spremljanjem, obveščanjem, alarmiranjem in shranjevanjem*
Heterogeni multiprocesorski sistem – GRIDRačunalništvoInstitut "Jožef Stefan"F12008Mikro- in nano-elektronika54.97Svjetlana FajferSvjetlana.Fajfer@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS210000Numerično modeliranje kompleksnih sistemov*
Nadgradnja heterogene računalniške gručeRačunalništvoInstitut "Jožef Stefan"F12012Mikro- in nano-elektronika38.262Jernej Fesel Kamenikjernej.kamenik@ijs.si Storitev izvaja raziskovalec IJS134912Oprema se uporablja za numerične izračune na področju fizike kondenzirane snovi, biofizike in fizike osnovnih delcev in polj*
SINTETIZATOR SLOVENSKEGA GOVORRačunalništvoE92013Mikro- in nano-elektronikaTomaž ŠefTomaz.Sef@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Računalniška oprema za razvoj porazdeljenih inteligentnih sistemovRačunalništvoInstitut "Jožef Stefan"E92004Mikro- in nano-elektronika42.47Matjaž GamsMatjaz.Gams@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS103792.37Oprema je obsegala v mrežo povezane strežnike, namizne in prenosne računalnike, periferne in mobilne naprave ter pripadajočo programsko opremo. Namenjena je bila raziskavam in razvoju metod porazdeljenih inteligentnih sistemov. Z njo smo izvajali raziskovalne in razvojne projekte na področjih strojnega učenja, odkrivanja zakonitosti v podatkih, večagentnih sistemov, semantičnega spleta, evolucijskega računanja in jezikovnih tehnologij.*
Računalniška oprema za raziskave ambientalne inteligenceRačunalništvoInstitut "Jožef Stefan"E92011Mikro- in nano-elektronika34.290563529412Matjaž GamsMatjaz.Gams@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS120704.79Oprema je namenjena zajemanju lokacije, orientacije in pospeškov nosljivih značk z namenom rekonstrukcije človeške poze. Na voljo so tudi procesni strežniki za procesiranje zajetih podatkov.*
Računalniška oprema za razvoj inteligentnih internetnih storitevRačunalništvoInstitut "Jožef Stefan"E92003Mikro- in nano-elektronika40.82Matjaž GamsMatjaz.Gams@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS89787.63Oprema je obsegala v mrežo povezane strežnike, namizne in prenosne računalnike, periferne in mobilne naprave ter pripadajočo programsko opremo. Namenjena je bila raziskavam in razvoju metod za podporo inteligentnih internetnih storitev, ki so računsko in pomnilniško zahtevne. Uporabljena je bila za dostopanje do informacij na globalnem omrežju, iskanje zakonitosti v velikih porazdeljenih zbirkah podatkov in podpori govornih komunikacij.*
Nadgradnja računalniške gruče IIRačunalništvoCenter odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologijiE82012Mikro- in nano-elektronika22.35Sašo DžeroskiSaso.Dzeroski@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS61703.2Visokozmogljiv računalnik za kompleksno analizo podatkov.*
Računalniška gručaRačunalništvoCenter odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologijiE82011Mikro- in nano-elektronika22.35Sašo DžeroskiSaso.Dzeroski@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS71850Visokozmogljiv računalnik za kompleksno analizo podatkov.*
Oprema za analitiko podatkov in tekstovRačunalništvoInstitut "Jožef Stefan"E82010Mikro- in nano-elektronika41.07Igor MozetičIgor.Mozetic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS91925Oprema služi raziskovalnem delu, ki obsega razvoj in testiranje novih metod za analiziranje velikih količin podatkov in tekstov in njihovega spreminjanja skozi čas*
Nadgradnja računalniške gruče IIIRačunalništvoCenter odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologijiE82013Mikro- in nano-elektronika22.35Sašo DžeroskiSaso.Dzeroski@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS96044.5Visokozmogljiv računalnik za kompleksno analizo podatkov.*
OPREMA ZA ANALITIKOV TOKOV TEKSTOV IN PODATKOVZA KT RAČUNALNIŠKI OBLAKRačunalništvoInstitut "Jožef Stefan"E82016Mikro- in nano-elektronika41.07Igor MozetičIgor.Mozetic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS134300Supermicro strežnik*
Oprema za zajemanja in semantično analizo multimedijskih podatkovRačunalništvoInstitut "Jožef Stefan"E82008Mikro- in nano-elektronika73.79Nada LavračNada.Lavrac@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS148000Zajemanje, shranjevanje, obdelava in semantični analiza velikih količin podatkov. Poudarek je na multimedijskih vsebinah (analiza slik in videa), tekstovnih in spletnih vsebinah in zbirkah strukturiranih podatkov.*
Računalniška oprema za semantične informacijske storitveRačunalništvoInstitut "Jožef Stefan"E82004Mikro- in nano-elektronika44.24Nada LavračNada.Lavrac@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS118827.26Razvoj novih računalniških programov in metod za semantično analizo velikih podatkovnih in tekstovnih zbirk.*
Raziskovalni vzporedni računalnikRačunalništvoInstitut "Jožef Stefan"E62004Mikro- in nano-elektronika36.54Roman TrobecRoman.Trobec@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS53344.08Vzporedni računalnik je namenjen razvoju in izvajanju računsko zahtevnih programov, študiju zahtevnosti računanja in proučevanju povezovalnih omrežji.*
Laboratorij za antropocentrične študije in računalniško forenzikoRačunalništvoInstitut "Jožef Stefan"E52007Mikro- in nano-elektronika38.17Tomaž Klobučartomaz.klobucar@ijs.si Storitev izvaja raziskovalec IJS67200Evalvacija uporabnosti programske opreme*
Sistem za merjenje obratovalnih parametrov agregataOstala opremaCENTER ODLIČNOSTI NIZKOOGLJIČNE TEHNOLOGIJE E22011Napredne proizvodnje tehnologije50Vladimir JovanVladimir.Jovan@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS13033.22Sistem sestoji iz računalnika, pretvorniške enote in raznih merilnikov (temperature, tlaka, pretoka) za sprotno merjenje delovanja sistema s PEM gorivnimi celicami.*
Analizator ULTRAMATOstala opremaCENTER ODLIČNOSTI NIZKOOGLJIČNE TEHNOLOGIJE E22011Napredne proizvodnje tehnologije35Janko PetrovčičJanko.Petrovcic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS19761.6

Instrument lahko meri vsebnost CO (CO2) v plinih tudi pri zelo nizkih (ppm) vrednostih

50
Agregat s PEM gorivnimi celicami srednje močiOstala opremaCENTER ODLIČNOSTI NIZKOOGLJIČNE TEHNOLOGIJE E22010Napredne proizvodnje tehnologije40Janko PetrovčičJanko.Petrovcic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS38640

Generator električne in toplotne energije. Sistem sestoji iz 8 kW sklada gorivnih celic, akumulatorske baterije, DC/DC pretvornika in krmilnega modula.

9
Računalniška in merilno-regulacijska oprema laboratorija za tehnologijo vodenja sistemovRačunalništvoInstitut "Jožef Stefan"E22002Napredne proizvodnje tehnologije43.78Gregor Dolancgregor.dolanc@ijs.si Storitev izvaja raziskovalec IJS45971.96Meritve EM emisij in analiza EM združljivosti naprav v procesnem okolju; preizkušanje metod vodenja na procesni opremi*
Računalniška in merilna oprema za upravljanje in diagnosticiranje kompleksnih sistemovRačunalništvoInstitut "Jožef Stefan"E22004Napredne proizvodnje tehnologije36.79Gregor Dolancgregor.dolanc@ijs.si Storitev izvaja raziskovalec IJS55467.4Meritve akustičnih signalov in vibracij; računalniški zajem in analiza električnih signalov*
Eksperimentalni energetski sistem s PEM gorivno celicoOstala opremaInstitut "Jožef Stefan"E22007Napredne proizvodnje tehnologije47.67Gregor Dolancgregor.dolanc@ijs.si Storitev izvaja raziskovalec IJS148000Eksperimentalni sistem sestavlja 1kW PEM gorivne celice, viri vodika, hranilnik vodika, elektronsko breme in kontrolni sistem za nadzor in vodenje. Sistem je namenjen testiranju različnih podsklopov, ki se uporabljajo pri gradnji sistemov, ki kot energetski vir uporabljajo PEM gorivne celice. *
SIST.ZA BREZKONTAKT.MERJ.GIB.Oprema za biološke in biokemijske raziskaveE12010Mikro- in nano-elektronikaJan BabičJan.Babic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
OPTO ELEKTRONSKI MERILNI SISTEOprema za biološke in biokemijske raziskaveE12004Mikro- in nano-elektronikaJan BabičJan.Babic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
IZOKINETIČ.DINAMOMETER S4-PROOprema za biološke in biokemijske raziskaveE12012Mikro- in nano-elektronikaIgor MekjavićIgor.Mekjavic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJSza preučevanje vplivov različnih protokolov in okoljsko-ergonomskih dejavnikov na stanje mišično-skeletnega sistema pri človeku. Sistem omogoča merjenje moči, navorov in aktivnosti mišic v vseh glavnih sklepih in sklepnih položajih.*
NAPRAVA PQCT XCT 3000Oprema za biološke in biokemijske raziskaveE12011Mikro- in nano-elektronikaIgor MekjavićIgor.Mekjavic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
HOLOGIC DISCOVERY RENTGENSKAOprema za biološke in biokemijske raziskaveE12011Mikro- in nano-elektronikaIgor MekjavićIgor.Mekjavic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJSZa rentgensko denzitometrijo, merjenje gostote kosti.*
Robotska roka LBR IVRobotikaE12010Napredne proizvodnje tehnologijeBojan NemecBojan.Nemec@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Robotska roka KUKA LBR iVRobotikaE12010Napredne proizvodnje tehnologijeBojan NemecBojan.Nemec@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
ROBOT VECNAMENSKIRobotikaE12002Napredne proizvodnje tehnologijeBojan NemecBojan.Nemec@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
HAPTIČNI ROBOT MOOGRobotikaE12014Napredne proizvodnje tehnologijeJan BabičJan.Babic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Večnamenski raziskovalni robotRobotikaInstitut "Jožef Stefan"E12002Napredne proizvodnje tehnologije37.93Leon ŽlajpahLeon.Zlajpah@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS65181.46Univerzalni robot, 7 stopenj, nosilnost 10 Kg, frekvenca trajektorije do 700 Hz, regulacija sile na vrhu robota, integriran na mobilni ploščadi. *
Humanoidni robotRobotikaInstitut "Jožef Stefan"E12007Napredne proizvodnje tehnologije39.22Leon ŽlajpahLeon.Zlajpah@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS76157.9Imitacija človeškega gibanja in akcij. Robot ima 28 prostostnih stopenj, je visok 63 cm in težek 8,8 Kg*
Optični merilni sistem za analizo gibanjaRobotikaInstitut "Jožef Stefan"E12004Napredne proizvodnje tehnologije41.11Leon ŽlajpahLeon.Zlajpah@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS92262.753D merjenje gibanja pri človeku z natančnostjo pod 1 mm s šestimi kamerami, volumen merjenja do 10 m3, frekvenca meritve do 100 Hz. Meritev se izvaja s pomočjo odsevnikov )markerjev=, ki jih nalepimo na točko, ki jo želimo opazovati.*
Klimatska komoraOprema za biološke in biokemijske raziskaveInstitut "Jožef Stefan"E12005Mikro- in nano-elektronika44.57Leon ŽlajpahLeon.Zlajpah@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS121598.22Klimatska komora je namenjena testiranju v eksteremnih okoljih. Omogoča simuliranje pogojev od -30° do +50°C, različne stopnje vlažnosti zraka in koncenracijo kisika do višine 15000m. Dimenzije komore so 3m x 3m x 3m. *
SOCOMEC 1X200KVA (računalnik)RačunalništvoCMI1991Mikro- in nano-elektronikaMatjaž LevstekMatjaz.Levstek@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Ionska litografija – FIBOprema za obdelovanje površinCenter odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)CEMM2012Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika80Miran ČehMiran.Ceh@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS1018799FIB je tehnika, ki se uporablja v industriji polprevodnikov, pri vedah o materialih in v biologiji za različne analize, nanašanja in ionsko jedkanje s pomočjo pospešenih ionov. Dvožarkovni sistem je znanstveni instrument, ki je sestavljen iz vrstičnega elektronskega mikroskopa (SEM) za opazovanje površine vzorcev in ionskega snopa za jedkanje oziroma rezanje. Instrument se uporablja za izdelovanje različnih oblik in vzorcev na nanometerskem področju, za pripravo vzorcev za presevno elektronsko mikroskopijo (TEM), 3D tomografijo in nanašanje prevodnih oziroma neprevodnih tankih plasti s pomočjo ionskega snopa. *
QUANTUM ZA ARM 200CF (KI)MikroskopijaCEMM2015Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaMiran ČehMiran.Ceh@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
PEELSMikroskopijaCEMM2000Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaMiran ČehMiran.Ceh@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
PRESEVNI ELEKTRONSKI MIKROSKOPMikroskopijaCEMM1999Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaMiran ČehMiran.Ceh@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
VRSTIČNI ELEKTRONSKI MIKROSKOPMikroskopijaCEMM1996Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaMiran ČehMiran.Ceh@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Nizko-energijska ionska erozija materialovMikroskopijaInstitut "Jožef Stefan"CEMM2002Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika36.6Miran ČehMiran.Ceh@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS53892.47Oprema je namenjena pripravi vzorcev za presevno elektronsko mikroskopijo (TEM). Nizka energija ionskega jedkanja omogoča pripravo vzorcev brez amorfne plasti na površini vzorca.*
Vrstični elektronski mikroskop s FEG izvorom elektronov (FEG SEM)MikroskopijaInstitut "Jožef Stefan"CEMM2008Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronika109.79Miran ČehMiran.Ceh@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS676014Oprema je namenjena mikrostrukturni karakterizaciji materialov. Gre za vrhunsko aparaturo, ki omogoča slikovne ločljivosti nekaj nm, kvalitativno in kvantitativno kemijsko analizo z mikronskega področja z metodama EDXS in WDXS ter elektronsko litografijo.*
NAPRAVA ZA IONSKO JEDKANJEMikroskopijaCEMM1994Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaMiran ČehMiran.Ceh@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
VRSTIČNI ELEKTRONSKI MIKROSKOPMikroskopijaCEMM1994Nanotehnologija & Napredni materiali & Mikro- in nano-elektronikaMiran ČehMiran.Ceh@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
MONOLITH MO-G006Oprema za biološke in biokemijske raziskaveB32017Industrijska biotehnologijaMilica Perišić NanutMilica.Perisic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
KONFOKALNI MIKROSKOP 63,91%(Oprema za visokozmogljivostno vizualizacijo)MikroskopijaB32011Industrijska biotehnologijaJanko KosJanko.Kos@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
FLURESCENČNI MIKROSKOPMikroskopijaB22010Industrijska biotehnologijaToni PetanToni.Petan@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
SISTEM HPLC/MS PROTEIN IDOprema za biološke in biokemijske raziskaveB22006Industrijska biotehnologijaAdrijana LeonardiAdrijana.Leonardi@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
SISTEM ZA VIZUALIZACIJO GELOVOprema za biološke in biokemijske raziskaveB22004Industrijska biotehnologijaAdrijana LeonardiAdrijana.Leonardi@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Pretočni citometerOprema za biološke in biokemijske raziskaveCenter odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologijiB22011Industrijska biotehnologija22.35Igor KrižajIgor.Krizaj@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS74940Pretočni citometer – analizator se bo uporabljal za natančno določanje in ločevanje celic v populaciji, ki imajo določene morfološke ali biokemijske lastnosti.*
Mikro LC sistem za zbiranje in nanašanje frakcijOprema za biološke in biokemijske raziskaveInstitut "Jožef Stefan"B22008Industrijska biotehnologija39.23Igor KrižajIgor.Krizaj@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS76263.84Sistem za tekočinsko kromatorgrafijo, namenjen separaciji bioloških molekul na osnovi razlik molekul po masi, električnem naboju, biološki afiniteti in adsorbcijskih lastnostih pri višjem tlaku (FPLC/HPLC). Fotometrična detekcija, avtomatsko zbiranje frakcij*
Nadgradnja N-terminalnega aminokislinskega sekvenatorjaOprema za biološke in biokemijske raziskaveCenter odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologijiB22010Industrijska biotehnologija22.35Igor KrižajIgor.Krizaj@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS111552.17Prenova instrumenta za določanje zaporedja proteinov.*
Oprema za visokozmogljivostno subcelularno vizualizacijoOprema za biološke in biokemijske raziskaveInstitut "Jožef Stefan"B22010Industrijska biotehnologija54.91Igor KrižajIgor.Krizaj@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS209563.86Oprema je namenjena visokozmogljivostni subcelularni vizualizaciji fluorescenčno označenih molekul.*
SEKVENTOROprema za biološke in biokemijske raziskaveB21996Industrijska biotehnologijaIgor KrižajIgor.Krizaj@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
PREPARATIVNA ULTRACENTRIFUGAOprema za biološke in biokemijske raziskaveB21986Industrijska biotehnologijaJernej ŠribarJernej.Sribar@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
RENTGENSKI OBSEVALNIK ARRSOprema za biološke in biokemijske raziskaveInstitut "Jožef Stefan"B12016Industrijska biotehnologija57.29Miha ButinarMiha.Butinar@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS291214Namenjen je računalniško vodenem tomografskemu 3D rentegenskem slikanju miši in podgan (CT slikanje). Omogoča longitudinalne študije zaradi nizkih energijskih vrednosti rentgenskih žarkov.*
IVIS SPECTUM IMAGING SYSTEM OMSpektrometrijaB12013Industrijska biotehnologijaMiha ButinarMiha.Butinar@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJSPredstavlja osnovno opremo za in vivo slikanje v območju do 850 nm valovne dolžine. Uporablja se za študije biodistribucije, ciljanja in sledenja fluorescenčno označenih proteinov, molekul in zdravilnih učinkovin v različnih živalskih modelih. Ima možnost detekcije bioluminiscence, omogoča 3D tomografsko slikanje z visoko ločljivostjo (do 1 celice), slikanje z več fluorescenčnimi barvili hkrati in kvantifikacijo fluorescenčnih in bioluminiscenčnih signalov.*
Dvokanalni spektrometer Dvokanalni flurimeter Quanta Master 40SpektrometrijaCenter odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologijiB12013Industrijska biotehnologija22.35Boris TurkBoris.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS76283.25Modularni, dvokanalni fluorimeter s Xe lučjo in z nastavljivimi režami monokromatorjev lahko pri merjenju simultano spremlja dve emisijski območji (dvokanalna opcija, T-konfiguracija). Instrument omogoča visokoobčutljivo detekcijo v območju od 200 nm do 900 nm na obeh kanalih.*
Kristalizacijski robotOprema za biološke in biokemijske raziskaveCenter odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologijiB12013Industrijska biotehnologija22.35Dušan TurkDusan.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS77689.2Kristalizacijski robot s sposobnostjo pipetiranja nanoliterskih volumnov.*
Detektor za določevanje mas na osnovi statičnega sipanja svetlobe z detektorjem za določevanje refraktivnega indeksaOprema za biološke in biokemijske raziskaveCenter odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologijiB12013Industrijska biotehnologija22.35Dušan TurkDusan.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS79588.89Sistem omogoča določevanje molske mase proteinov in nanodelcev in raztopini v območju 10000 Da – 1MDa.*
Spektrometer za cirkularni dihrI0zem (CD) in hitro mešanje »stopped-flowSpektrometrijaCenter odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologijiB12013Industrijska biotehnologija22.35Boris TurkBoris.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS90144.47Spektrometer za cirkularni dihrI0zem (CD) z dodatki za hitro kinetiko: fluorescenca, absorbance in dodatkom za dvono mešanje “stopped-flow” kinetiko. Bonus: linearni dihrI0zem, anizotropija, IR meritve. *
Kristalizacijska platforma – Sistemi za slikanje kristalovOprema za biološke in biokemijske raziskaveCenter odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologijiB12013Industrijska biotehnologija22.35Dušan TurkDusan.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS532520.57Sistem je zmožen slikati 500 standardnih plošč s 96 luknjami na sobni temperaturi (20o) in najmanj 150 standardnih plošč s 96 luknjami pri nižji temperaturi (6-10°C). Slikanje je avtomatsko v predvidenih časovnih intervalih.*
Čitalec mikrotiterskih plošč TecanSpektrometrijaCenter odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologijiB12012Industrijska biotehnologija22.35Boris TurkBoris.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS68999.18Čitalec mikrotiterskih ploščic se uporablja na več stopnjah naših raziskav: za osnovno kvalitativno in kvantitativno spektralno analizo makromolekul, za analizo sprememb v različnih celičnih procesih v živih celicah in analizo specifičnih interakcij med makromolekulami.*
ITC (Isothermal titration calorimetry)Oprema za biološke in biokemijske raziskaveCenter odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologijiB12012Industrijska biotehnologija22.35Dušan TurkDusan.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS77992.32Proteinska mikrokalorimetrija temelji na meritvah toplote, ki se sprosti ali porabi v interakciji med proteini in ligandi*
Sistem za določanje kristalnih struktur makromolekul (Bruker X8 PROTEUM)Oprema za biološke in biokemijske raziskaveCenter odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologijiB12011Industrijska biotehnologija22.35Dušan TurkDusan.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS621414.94Sistem za določevanje struktur kristalov makromolekul je sestavljen iz rentgenskega generatorja )vir x-žarkov, detektorja, računalnikov in programske opreme, pribora za kristalizacijo.*
Nadgradnja mikroskopa OlympusMikroskopijaCenter odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologijiB12010Industrijska biotehnologija22.35Boris TurkBoris.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS28390.84Da bi pod mikroskopom celice ohranile svoje značilnosti, jih moramo gojiti ter jih mikroskopirati pri optimalnih in kontroliranih pogojih, t. j. vzdrževati moramo primerno temperaturo, vsebnost ogljikovega dioksida ter s tem povezano stopnjo kislosti (pH gojišča) ter primerno vlažnost. Za vzdrževanje omenjenih delovnih pogojev med samim potekom mikroskopiranja, mora biti v ta namen na mikroskop pritrjena inkubacijska komora, prirejena tipu mikroskopa, ki vzdržuje optimalne pogoje za rast celic, hkrati pa mora omogočiti operaterju vso potrebno manipulacijo vzorca. Kontrola temperature poteka s pomočjo toplega zraka, ki prihaja iz ločene grelne enote ter nato kroži znotraj inkubacijeske komore.*
Nadgradnja sistema za izolacijo rekombinantnih proteinov(AKTAexpress Single System)Oprema za biološke in biokemijske raziskaveCenter odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologijiB12010Industrijska biotehnologija22.35Dušan TurkDusan.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS43182.5Delovna postaja AKTAexpress (GE Healthcare) je dvojni kromatografski sistem zasnovan za avtomatizirano dvostopenjsko čiščenje proteinov na afinitetnih kolonah in na kolonah za razsoljevanje in separocijo preko kolon. Zmogljivost sistema je, da lahko očisti do 8 proteinov v enem dnevu.*
Sistem za izolacijo rekombinantnih proteinov (AKTAexpress Single System)Oprema za biološke in biokemijske raziskaveCenter odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologijiB12010Industrijska biotehnologija22.35Dušan TurkDusan.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS50389.02Delovna postaja AKTAexpress (GE Healthcare) je dvojni kromatografski sistem zasnovan za avtomatizirano dvostopenjsko čiščenje proteinov na afinitetnih kolonah in na kolonah za razsoljevanje in separocijo preko kolon. Zmogljivost sistema je, da lahko očisti do 8 proteinov v enem dnevu.*
Sistem HPLC(Breeze 2 AO 1525/2707/H/C/2998)Oprema za biološke in biokemijske raziskaveCenter odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologijiB12010Industrijska biotehnologija22.35Dušan TurkDusan.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS53852.76Delovna postaja AKTAexpress (GE Healthcare) je dvojni kromatografski sistem zasnovan za avtomatizirano dvostopenjsko čiščenje proteinov na afinitetnih kolonah in na kolonah za razsoljevanje in separocijo preko kolon. Zmogljivost sistema je, da lahko očisti do 8 proteinov v enem dnevu.*
Nano-HPLC instrument(EASY-nLC II LC-446)Oprema za biološke in biokemijske raziskaveCenter odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologijiB12010Industrijska biotehnologija22.35Boris TurkBoris.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS64284Nanoflow HPLC enota se uporablja za nizko pretočno kromatografsko analizo (10-1000 nL / min). To je neposredno povezan z virom ESI masnega spektrometra tipa Thermo Scientific Orbitrap Velos. Nanoflow HPLC enota je opremljena z vakumskim razplinjevalnikom in temperaturno reguliranim avtovzorčevalnikom (1-10 obseg jul injiciranje).*
Masni spektrometer Bruker ULTRAFLEXTREME tm maldi tofSpektrometrijaCenter odličnosti za integrirane pristope v kemiji in biologijiB12010Industrijska biotehnologija22.35Boris TurkBoris.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS792044.16Visoko resolucijska masna spektrometrija se uporablja za identifikacijo proteinov in njihovih posttranslacijskih modifikacij. To omogoča določitev molekulske mase proteinov in proteinskih kompleksov.*
Masni spektrometer LTQ Orbitrap XL ETDSpektrometrijaInstitut "Jožef Stefan"B12010Industrijska biotehnologija136.37Marko FonovićMarko.Fonovic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS901938Oprema se uporablja za kvantitativno in kvalitativno analizo proteiniv v kompleksnih bioloških vzorcih. *
Sistem za proizvodnjo rekombinantnih proteinovOprema za biološke in biokemijske raziskaveInstitut "Jožef Stefan"B12008Industrijska biotehnologija61.31Boris TurkBoris.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS263938Sistem predstavlja infrastrukturno osnovo za pridobivanje rekombinantnih proteinov v bakteriji, kvasovki in insektnih celicah.*
MultiPROBE II HT Digestion StationOprema za biološke in biokemijske raziskaveInstitut "Jožef Stefan"B12006Industrijska biotehnologija41.29Boris TurkBoris.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS93769.75Oprema se uporablja za visokopretočno razgradnjo proteinskih vzorcev s tripsinom. Tripsinska razgradnja je standarden način priprave proteinskih vzorcev za proteomsko analizo.*
ETTAN SPOTT PICKEROprema za biološke in biokemijske raziskaveB12006Industrijska biotehnologijaMarko FonovićMarko.Fonovic@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
Avtomatizirani sistem za izrezovanje gelov za proteomikoOprema za biološke in biokemijske raziskaveInstitut "Jožef Stefan"B12006Industrijska biotehnologija45.22Boris TurkBoris.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS127191.87

Oprema se uporablja za avtomatsko izrezovanje velikega števila proteinskih lis, ločenih s pomočjo 2D elektroforeze

43218
Sistem za vizualizacijo gelov in drugih vzorcevOprema za biološke in biokemijske raziskaveInstitut "Jožef Stefan"B12005Industrijska biotehnologija49.52Boris TurkBoris.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS163744.12Sistem za vizualizacijo se uporablja za detekcijo radiaktivno označenih (3H, 14C, 125I, 32P, 33P, 35S) in z najrazličnejšimi fluorofori označenih vzorcev tako v poliakrilamidnih, agaroznih gelih, membranah in mikromrežah. S kombinacijo različnih laserjev lahko spremljamo prisotnosti enega, dveh ali več označevalcev hkrati. Sistem je do 20x bolj občutljiv od konkurenčnih sistemov in nekaj velikostnih redov občutljivejši od drugih tehnik za detekcijo.*
Pretočni citometer FACSCalibur (argonski laser 488 nm), Becton DickinsonOprema za biološke in biokemijske raziskaveInstitut "Jožef Stefan"B12003Industrijska biotehnologija36.12Boris TurkBoris.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS49824.93Pretočna citometrija omogoča semikvantitativno in celo kvantitativno analizo fluorescence posameznih celic v suspenziji. Z uporabo protiteles, konjugiranih s fluorokromi, lahko spremljamo izražanje oz. prisotnost posameznih molekul na / v celicah. Z barvili, katerih fluorescenca se spreminja v odvisnosti od pH, oksidativnega stanja, koncentracije določenih ionov,... lahko spremljamo fiziološko stanje celic (mitohondrijski membranski potencial, mikrobicidni potencial nevtrofilcev, prenos signala s površinskih receptorjev). Z barvili, ki se vežejo v DNA, je mogoče analizirati celični ciklus in živost celic. Med pogostejše uporabe sodijo še analiza apoptotskih celic, vrednotenje uspešnosti transfekcije celic s fluorescenčnimi konstrukti in sledenje proliferaciji celic, obarvanih z barvilom CFSE. Najpomembnejše prednosti pretočne citometrije so: hitra priprava vzorcev, hitra analiza velikega števila celic, preučevanje medsebojne povezanosti več lastnosti in možnost statistične obdelave, tako v smislu deleža celic kot intenzitete parametrov.*
Konfokalna optika za rentgenske žarkeSpektrometrijaInstitut "Jožef Stefan"B12003Industrijska biotehnologija37.62Boris TurkBoris.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS62522.8Oprema je del sistema za snemanje difrakcijskih vzorcev kristalov makromolekul.*
Preparativna centrifugaOprema za biološke in biokemijske raziskaveInstitut "Jožef Stefan"B12002Industrijska biotehnologija34.96Boris TurkBoris.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS39944.91Separacija vzorcev s centrifugiranjem; ločevanje trdne in tekoče faze, pretežno za biološke vzorce*
NAPRAVA ZA PROTEINE FPLCOprema za biološke in biokemijske raziskaveB12001Industrijska biotehnologijaDušan TurkDusan.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
MIKROSKOP INVERNI IX 71MikroskopijaB12002Industrijska biotehnologijaBoris TurkBoris.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
PRETOCNI CITOMETEROprema za biološke in biokemijske raziskaveB12001Industrijska biotehnologijaBoris TurkBoris.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*
SPEKTROMETER CD (ZIROVNIK)SpektrometrijaB11996Industrijska biotehnologijaBoris TurkBoris.Turk@ijs.siStoritev izvaja raziskovalec IJS*