XPS spektrometer | Center za prenos tehnologij in inovacij na Institutu "Jožef Stefan"

IJS Oprema

ID: 9719

Ime: XPS spektrometer

Tip: Spektrometrija

Lastnik: Institut "Jožef Stefan"

Odsek: F4

Leto nabave: 2005

Področje KET: Nanotehnologija
Napredni materiali

Cena za uporabo (EUR/h): 76,73

Skrbnik opreme: Janez Kovač

E pošta skrbnika: Janez.Kovac@ijs.si

Način najema opreme: Storitev izvaja raziskovalec IJS

Nabavna vrednost (EUR): 395 000,00

Opis/namembnost : Preiskava površin in tankih plasti z rentgensko fotoelektronsko spektroskopijo - XPS (ESCA). Spektrometer XPS omogoča kvantitativno analizo sestave površine in določitev valenčnega stanja, oziroma tipa kemijske vezi v plasti debeline 3 - 5 nm. Vzorci so lahko kovinski, oksidni, kompozitni, praškasti, keramični, polimerni... Možna je preiskava porazdelitve elementov po globini vzorca v smeri od površine proti notranjosti do globine okoli 200 nm.

Inventarna številka IJS:

The sidebar you added has no widgets. Please add some from theWidgets Page