Mikroskop na atomsko silo AFM | Center za prenos tehnologij in inovacij na Institutu "Jožef Stefan"

IJS Oprema

ID: 9717

Ime: Mikroskop na atomsko silo AFM

Tip: Mikroskopija

Lastnik: Institut "Jožef Stefan"

Odsek: F4

Leto nabave: 2006

Področje KET: Nanotehnologija
Napredni materiali

Cena za uporabo (EUR/h): 35,61

Skrbnik opreme: Janez Kovač

E pošta skrbnika: Janez.Kovac@ijs.si

Način najema opreme: Storitev izvaja raziskovalec IJS

Nabavna vrednost (EUR): 45 450,00

Opis/namembnost : AFM mikroskop je namenjen preiskavi topografije površine trdnih vzorcev z visoko ločljivostjo. Možna je preiskava področij velikosti do 50 mikronov z natančnostjo 0,1 nm. Možna je analiza hrapavosti, porazdelitev magnetnega in električnega polja, litografija in meritev interakcijskih sil med iglo in podlago.

Inventarna številka IJS:

The sidebar you added has no widgets. Please add some from theWidgets Page