Vrstični elektronski mikroskop s FEG izvorom elektronov (FEG SEM) | Center za prenos tehnologij in inovacij na Institutu "Jožef Stefan"

IJS Oprema

ID: 9647

Ime: Vrstični elektronski mikroskop s FEG izvorom elektronov (FEG SEM)

Tip: Mikroskopija

Lastnik: Institut "Jožef Stefan"

Odsek: CEMM

Leto nabave: 2008

Področje KET: Nanotehnologija
Napredni materiali
Mikro- in nano-elektronika

Cena za uporabo (EUR/h): 109,79

Skrbnik opreme: Miran Čeh

E pošta skrbnika: Miran.Ceh@ijs.si

Način najema opreme: Storitev izvaja raziskovalec IJS

Nabavna vrednost (EUR): 676 014,00

Opis/namembnost : Oprema je namenjena mikrostrukturni karakterizaciji materialov. Gre za vrhunsko aparaturo, ki omogoča slikovne ločljivosti nekaj nm, kvalitativno in kvantitativno kemijsko analizo z mikronskega področja z metodama EDXS in WDXS ter elektronsko litografijo.

Inventarna številka IJS:

The sidebar you added has no widgets. Please add some from theWidgets Page